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1. (WO2014095129) STABILITÉ DE FRÉQUENCE FONDAMENTALE ET ANALYSE D'HARMONIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/095129    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/072089
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 22.10.2013
CIB :
G01R 19/25 (2006.01), G01R 23/02 (2006.01), G01R 23/20 (2006.01)
Déposants : ITRON FRANCE [FR/FR]; 52 rue Camille Desmoulins F-92130 Issy-les-Moulineaux (FR).
CHANDEAU, Gwladys Fabienne Alice [FR/FR]; (FR).
GUABERT, Jean-Paul [FR/FR]; (FR).
TISSIER, Jean-Francois [FR/FR]; (FR)
Inventeurs : CHANDEAU, Gwladys Fabienne Alice; (FR).
GUABERT, Jean-Paul; (FR).
TISSIER, Jean-Francois; (FR)
Mandataire : KILBURN & STRODE LLP; 20 Red Lion Street London WC1R 4PJ (GB)
Données relatives à la priorité :
12306629.2 19.12.2012 EP
Titre (EN) FUNDAMENTAL FREQUENCY STABILITY AND HARMONIC ANALYSIS
(FR) STABILITÉ DE FRÉQUENCE FONDAMENTALE ET ANALYSE D'HARMONIQUES
Abrégé : front page image
(EN)The method comprises taking a number of samples of an electrical signal throughout a main sampling window (S1); dividing the number of samples taken throughout the main sampling window into a plurality of groups of consecutive samples, each group of consecutive samples forming a subwindow (S2), wherein each subwindow includes a minimum number of the number of samples required to provide a required level of accuracy for estimating the fundamental frequency of the electrical signal; estimating, for each subwindow, the fundamental frequency of the electrical signal based on the group of consecutive samples of the respective subwindow (S3); and determining if the fundamental frequency is stable throughout the main window by comparing the estimated fundamental frequency of each subwindow (S4).
(FR)La présente invention concerne un procédé qui comprend les étapes consistant à prendre un certain nombre d'échantillons d'un signal électrique dans une fenêtre d'échantillonnage principal (S1) ; à diviser le nombre d'échantillons pris dans la fenêtre d'échantillonnage principal en une pluralité de groupes d'échantillons consécutifs, chaque groupe d'échantillons consécutifs formant une sous-fenêtre (S2), chaque sous-fenêtre comprenant un nombre minimum du nombre d'échantillons nécessaires pour fournir un niveau requis de précision permettant d'estimer la fréquence fondamentale du signal électrique ; à estimer, pour chaque sous-fenêtre, la fréquence fondamentale du signal électrique sur la base du groupe d'échantillons consécutifs de la sous-fenêtre (S3) respective ; et à déterminer si la fréquence fondamentale est stable sur la fenêtre principale par la comparaison de la fréquence fondamentale estimée de chaque sous-fenêtre (S4).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)