WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014091732) DISPOSITIF D'ASSISTANCE D'ESSAI ET PROCÉDÉ D'ASSISTANCE D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/091732    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/007192
Date de publication : 19.06.2014 Date de dépôt international : 06.12.2013
CIB :
G06F 11/28 (2006.01), G06F 11/36 (2006.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1,Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventeurs : KURODA, Takayuki; (JP)
Mandataire : SHIMOSAKA, Naoki; c/o NEC CORPORATION, 7-1,Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-270364 11.12.2012 JP
Titre (EN) TEST ASSISTANCE DEVICE AND TEST ASSISTANCE METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ASSISTANCE D'ESSAI ET PROCÉDÉ D'ASSISTANCE D'ESSAI
(JA) テスト支援装置、及び、テスト支援方法
Abrégé : front page image
(EN)The present invention comprehensively and quickly performs an inspection of the entire configuration of a system containing a specific system component. A test assistance device (100) is provided with a storage unit (102) and an extraction processing unit (101). The configuration of a system is defined by a plurality of functionalities that are to be maintained by the system and a set of programs that implement each of the functionalities. The storage unit (102) stores one or more system identifiers, identifiers for the plurality of functionalities that are to be maintained by each system, and component-related information (201) indicating the identifier for one or more programs that are capable of implementing each functionality. The extraction processing unit (101) extracts and outputs a system configuration including a specified functionality or program on the basis of the component-related information (201) when a functionality or a program is specified.
(FR)La présente invention effectue rapidement et entièrement une inspection de l'ensemble d'une configuration d'un système contenant un composant de système spécifique. Un dispositif d'assistance d'essai (100) comprend une unité de stockage (102) et une unité de traitement d'extraction (101). La configuration d'un système est définie par une pluralité de fonctionnalités qui doivent être gérées par le système et par un ensemble de programmes qui implémentent chacune des fonctionnalités. L'unité de stockage (102) stocke un ou plusieurs identifiants du système destinés à la pluralité de fonctionnalités qui doivent être gérées par chaque système, ainsi que des informations (201) relatives à un composant et indiquant l'identifiant destiné à un ou plusieurs programmes susceptibles d'implémenter chaque fonctionnalité. Lorsqu'une fonctionnalité ou un programme est spécifié, l'unité de traitement d'extraction (101) extrait et sort une configuration du système contenant une fonctionnalité ou un programme spécifié sur la base des informations (201) relatives à un composant.
(JA) 特定のシステム構成部品を含むシステムの全ての構成の検証を網羅的かつ迅速に実施する。 テスト支援装置(100)は、記憶部(102)、及び、抽出処理部(101)を含む。ここで、システムの構成は、システムが保持すべき複数の機能性、及び、各機能性を実現するプログラムの組により定義される。記憶部(102)は、1以上のシステムの識別子、各システムが保持すべき複数の機能性の識別子、及び、各機能性を実現可能な1以上のプログラムの識別子を示す構成部品関連情報(201)を記憶する。抽出処理部(101)は、機能性、または、プログラムが指定された場合に、構成部品関連情報(201)をもとに、指定された機能性、または、プログラムを含むシステムの構成を抽出し、出力する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)