WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014091610) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE QUANTITÉ DE POLISSAGE DE COMPOSANT DE FIBRE OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/091610    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/082408
Date de publication : 19.06.2014 Date de dépôt international : 13.12.2012
CIB :
G01B 11/00 (2006.01), B24B 49/12 (2006.01), G01B 9/02 (2006.01), G02B 6/00 (2006.01)
Déposants : TOYO SEIKAN GROUP HOLDINGS, LTD. [JP/JP]; 18-1, Higashi-Gotanda 2-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1418627 (JP)
Inventeurs : SAITOH Toshihide; (JP).
SENNO Yasunori; (JP)
Mandataire : EICHI PATENT & TRADEMARK CORP.; 45-13, Sengoku 4-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1120011 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING POLISHING AMOUNT OF OPTICAL FIBER COMPONENT
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE QUANTITÉ DE POLISSAGE DE COMPOSANT DE FIBRE OPTIQUE
(JA) 光ファイバ部品の研磨量測定方法及び装置
Abrégé : front page image
(EN)In order to easily and accurately measure, directly in real time, the polishing amount of an optical fiber member being polished, independently of the polishing amount of a ferrule, this method measures the polishing amount of the optical fiber member while polishing, wherein an inspection light is divided into a reference optical path with a variable optical path length, an optical fiber member being measured and a comparison optical path, and the polishing amount of the optical fiber component is calculated from the amount of change in the difference Lc between the reference optical path length when there is interference between the reference optical path and the return light of the optical fiber member being measured, and the reference optical path length when there is interference between the reference optical path and the return light of the comparison optical path.
(FR)Afin de mesurer de manière précise et aisée, directement en temps réel, la quantité de polissage d'un élément de fibre optique qui est poli, indépendamment de la quantité de polissage d'une ferrule, le procédé de la présente invention mesure la quantité de polissage de l'élément de fibre optique tout en polissant, une lumière d'inspection étant divisée en un trajet optique de référence ayant une longueur de trajet optique variable, un élément de fibre optique qui est mesuré et un trajet optique de comparaison, et la quantité de polissage du composant de fibre optique est calculée à partir de la quantité de changement dans la différence Lc entre la longueur de trajet optique de référence où il y a une interférence entre le trajet optique de référence et la lumière de retour de l'élément de fibre optique qui est mesuré, et la longueur de trajet optique de référence où il y a une interférence entre le trajet optique de référence et la lumière de retour du trajet optique de comparaison.
(JA) フェルールの研磨量とは無関係に、研磨中の光ファイバ部品の研磨量を直接リアルタイムで、精度よく容易に測定できるようにする。 光ファイバ部品の研磨量を、研磨を行いながら測定する方法であって、検査光を、光路長が可変の基準光路と、被測定光ファイバ部品と、比較用光路に分岐し、基準光路と被測定光ファイバ部品の戻り光が干渉したときの基準光路長と、基準光路と比較用光路の戻り光が干渉したときの基準光路長の差Lcの変化量により光ファイバ部品の研磨量を求める。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)