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1. (WO2014088144) DISPOSITIF DE TEST DE FONCTION BASÉ SUR UNE RÉUTILISATION D'UN JEU DE TEST UNITAIRE ET PROCÉDÉ DE TEST DE FONCTION ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/088144    N° de la demande internationale :    PCT/KR2012/011087
Date de publication : 12.06.2014 Date de dépôt international : 18.12.2012
CIB :
G06F 11/36 (2006.01), G06F 17/00 (2006.01)
Déposants : KYUNGPOOK NATIONAL UNIVERSITY INDUSTRY-ACADEMIC COOPERATION FOUNDATION [KR/KR]; 80, Daehak-ro Buk-gu Daegu 702-701 (KR)
Inventeurs : LEE, Woo Jin; (KR).
SHIN, Young Shul; (KR)
Mandataire : KIM, Jong-Sun; (Yeoksam-dong, Gwangsung Bldg.) 12Fl., 11, Yeoksam-ro 3-gil Gangnam-gu Seoul 135-936 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2012-0140573 05.12.2012 KR
Titre (EN) FUNCTION TEST DEVICE BASED ON UNIT TEST CASE REUSE AND FUNCTION TEST METHOD THEREFOR
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE FONCTION BASÉ SUR UNE RÉUTILISATION D'UN JEU DE TEST UNITAIRE ET PROCÉDÉ DE TEST DE FONCTION ASSOCIÉ
(KO) 단위 테스트 케이스 재사용 기반의 함수 테스트 장치 및 그 함수 테스트 방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a function test device based on an unit test case reuse and a function test method therefor. The function test device of the present invention comprises: a storage unit for storing unit test cases with respect to each function in a hierarchical structure; a unit test case selection unit for selectively reusing a unit test case of a lower function to abstract the internal structure of the lower function, which is called by the function to be tested, when the function to be tested is provided; a test case generation unit for generating at least one test case such that all unit test cases selected by the test case selection unit are performed; and a test case execution unit for testing the function to be tested by executing the test case.
(FR)L'invention concerne un dispositif de test de fonction basé sur une réutilisation d'un jeu de test unitaire et un procédé de test de fonction associé. Le dispositif de test de fonction de l'invention comprend : une unité de stockage permettant de stocker des jeux de test unitaire concernant chaque fonction dans une structure hiérarchique ; une unité de sélection de jeu de test unitaire permettant de réutiliser de façon sélective un jeu de test unitaire d'une fonction inférieure pour déduire la structure interne de la fonction inférieure, qui est appelée par la fonction à tester, lorsque la fonction à tester est fournie ; une unité de génération de jeu de test permettant de gérer au moins un jeu de test afin de pouvoir exécuter tous les jeux de test unitaire sélectionnés par l'unité de sélection de jeu de test ; et une unité d'exécution de jeu de test permettant de tester la fonction à tester en exécutant le jeu de test.
(KO)본 발명은 단위 테스트 케이스 재사용 기반의 함수 테스트 장치 및 그 함수 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명의 함수 테스트 장치는, 각 함수에 대한 단위 테스트 케이스를 계층구조로 저장하는 저장부와, 테스트 대상 함수가 제공되면 그 테스트 대상 함수에 의해 호출되는 하위 함수의 내부 구조를 추상화하도록 상기 하위 함수의 단위 테스트 케이스를 선별적으로 재사용하는 단위 테스트 케이스 선택부와, 상기 테스트 케이스 선택부에 의해 선택된 단위 테스트 케이스가 모두 수행되도록 적어도 하나의 테스트 케이스를 생성하는 테스트 케이스 생성부, 및 상기 테스트 케이스를 실행하여 상기 테스트 대상 함수를 테스트하는 테스트 케이스 실행부를 포함하여 구성된다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)