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1. (WO2014088046) SCINTILLATEUR EN PLASTIQUE, ÉCHANTILLON POUR MESURE DE SCINTILLATION, PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN SCINTILLATEUR EN PLASTIQUE ET DÉTECTEUR À SCINTILLATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/088046    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/082642
Date de publication : 12.06.2014 Date de dépôt international : 04.12.2013
CIB :
G01T 1/203 (2006.01), G01T 1/167 (2006.01), G01T 7/02 (2006.01)
Déposants : OCHANOMIZU UNIVERSITY [JP/JP]; 2-1-1, Otsuka, Bunkyo-ku, Tokyo 1128610 (JP)
Inventeurs : FURUTA, Etsuko; (JP)
Mandataire : YAMAMOTO, Koji; c/o TOKYO CENTRAL PATENT FIRM, 3rd Floor, Oak Building Kyobashi, 16-10, Kyobashi 1-chome, Chuou-ku, Tokyo 1040031 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-265737 04.12.2012 JP
Titre (EN) PLASTIC SCINTILLATOR, SAMPLE FOR SCINTILLATION MEASUREMENT, METHOD FOR MANUFACTURING PLASTIC SCINTILLATOR, AND SCINTILLATION DETECTOR
(FR) SCINTILLATEUR EN PLASTIQUE, ÉCHANTILLON POUR MESURE DE SCINTILLATION, PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN SCINTILLATEUR EN PLASTIQUE ET DÉTECTEUR À SCINTILLATION
(JA) プラスチックシンチレータ、シンチレーション測定用試料体、プラスチックシンチレータの作製方法及びシンチレーション検出器
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a plastic scintillator whereby a sample can be efficiently measured. A plastic scintillator (1) used in a scintillation detector (20), the plastic scintillator (1) provided with a measurement surface (1b) which has undergone a surface treatment for increasing hydrophilic properties thereof.
(FR)La présente invention concerne un scintillateur en plastique grâce auquel un échantillon peut être mesuré de manière efficace. Le scintillateur en plastique (1) est utilisé dans un détecteur à scintillation (20), le scintillateur en plastique (1) ayant une surface de mesure (1b) qui a été soumise à un traitement de surface pour augmenter ses propriétés hydrophiles.
(JA) 試料を効率的に測定できるプラスチックシンチレータを提供する。シンチレーション検出器(20)に用いるプラスチックシンチレータ(1)であって、親水性を高める表面処理がされた測定面(1b)を備えた。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)