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1. (WO2014087713) DISPOSITIF DE CAPTURE D'IMAGE ET SYSTÈME DE MICROSCOPE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/087713    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/075169
Date de publication : 12.06.2014 Date de dépôt international : 18.09.2013
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/24 (2006.01)
Déposants : OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072 (JP)
Inventeurs : WATANABE, Nobuyuki; (JP).
FUKUDA, Hiroyuki; (JP).
ABE, Yoko; (JP)
Mandataire : SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Toranomon Mitsui Building, 8-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000013 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-268787 07.12.2012 JP
Titre (EN) IMAGE CAPTURE DEVICE AND MICROSCOPE SYSTEM
(FR) DISPOSITIF DE CAPTURE D'IMAGE ET SYSTÈME DE MICROSCOPE
(JA) 撮像装置及び顕微鏡システム
Abrégé : front page image
(EN)Provided are an image capture device and a microscope system whereby, when moving an image capture unit and/or a subject for observation with respect to one another, inclining a focal plane of the image capture unit with respect to the direction of said movement and carrying out an image capture therewith, it is possible to allow appropriately setting an angle of inclination of the focal plane. An image capture device (1) comprises: a stage (100) whereupon a sample (SP) is mounted; an image capture unit (110), further comprising an image capture element which captures an image of the sample (SP); an XY drive unit (120) which moves the stage (100) in one direction within the mounting plane of the sample (SP) with respect to the image capture unit (110); an inclination mechanism (130) which inclines the image capture plane of the image capture element with respect to the stage (100) relative to the movement direction of the stage (100); and an angle of inclination setting unit (140) which, on the basis of at least the magnification of the image capture unit (110) and the size of an effective region which is a region upon the image capture plane which receives observation light from the sample (SP), sets the angle of inclination of the inclination mechanism (130).
(FR)La présente invention concerne un dispositif de capture d'image et un système de microscope selon lesquels, lorsque l'on déplace une unité de capture d'image et/ou un objet d'observation l'un par rapport à l'autre, en inclinant un plan focal de l'unité de capture d'image par rapport à la direction dudit déplacement et en exécutant une capture d'image à l'aide de cette dernière, il est possible de permettre un réglage approprié d'un angle d'inclinaison du plan focal. Selon l'invention, un dispositif de capture d'image (1) comprend : une platine (100) sur laquelle est monté un échantillon (SP); une unité de capture d'image (110), comprenant en outre un élément de capture d'image qui capture une image de l'échantillon (SP); une unité d'entraînement XY (120) qui déplace la platine (100) dans une direction à l'intérieur du plan de montage de l'échantillon (SP) par rapport à l'unité de capture d'image (110); un mécanisme d'inclinaison (130) qui incline le plan de capture d'image de l'élément de capture d'image par rapport à la platine (100) relativement à la direction de déplacement de la platine (100); et une unité de réglage d'angle d'inclinaison (140) qui, sur la base au moins du grossissement de l'unité de capture d'image (110) et de la taille d'une région active qui constitue une région du plan de capture d'image qui reçoit de la lumière d'observation de l'échantillon (SP), règle l'angle d'inclinaison du mécanisme d'inclinaison (130).
(JA) 撮像部と観察対象との少なくとも一方を他方に対して移動させると共に、該移動の方向に対して撮像部の合焦面を傾斜させて撮像を行う場合において、合焦面の傾斜角度を適切に設定することができる撮像装置及び顕微鏡システムを提供する。撮像装置1は、サンプルSPが載置されるステージ100と、サンプルSPを撮像する撮像素子を有する撮像部110と、サンプルSPの載置面内の1つの方向において、撮像部110に対してステージ100を移動させるXY駆動部120と、ステージ100に対して撮像素子の撮像面を、ステージ100の移動方向に対し相対的に傾斜させる傾斜機構130と、少なくとも撮像部110の倍率と、撮像面上においてサンプルSPからの観察光を取り込む領域である有効領域のサイズと、に基づいて、上記傾斜機構130の傾斜角度を設定する傾斜角度設定部140とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)