WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014087532) SONDE À ULTRASONS ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC ÉCHOGRAPHIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/087532    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/081737
Date de publication : 12.06.2014 Date de dépôt international : 07.12.2012
CIB :
A61B 8/00 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : TANAKA Hiroki; (JP).
MASUZAWA Hiroshi; (JP)
Mandataire : HIRAKI Yusuke; Atago Green Hills MORI Tower 32F, 5-1, Atago 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1056232 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ULTRASONIC PROBE AND ULTRASONIC DIAGNOSTIC DEVICE
(FR) SONDE À ULTRASONS ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC ÉCHOGRAPHIQUE
(JA) 超音波探触子及び超音波診断装置
Abrégé : front page image
(EN)This ultrasonic probe has a plurality of ultrasonic transducers, a given number of which constitute a single subarray, and is connected to a reception circuit that contains the following: at least one delay/addition circuit that performs a delay process and an addition process, by subarray, on received-ultrasound signals obtained from ultrasonic transducers in subarrays; and a second delay/addition circuit that performs a delay process and an addition process on received-ultrasound signals obtained from the ultrasonic transducers. The plurality of ultrasonic transducers comprise a first group and a second group. The received signals from the first group are sent to the second delay/addition circuit via the first delay/addition circuit(s), and the received signals from the second group are sent directly to the second delay/addition circuit without going through the first delay/addition circuit(s).
(FR)La présente invention concerne une sonde à ultrasons qui comporte une pluralité de transducteurs à ultrasons, dont un nombre donné constitue une sous-matrice unique, et est connectée à un circuit de réception qui contient les éléments suivants : au moins un circuit de retard/addition qui effectue un processus de retard et un processus d’addition, par sous-matrice, sur des signaux ultrasonores reçus obtenus à partir de transducteurs à ultrasons en sous-matrices ; et un deuxième circuit de retard/addition qui effectue un processus de retard et un processus d’addition sur les signaux ultrasonores reçus, obtenus à partir des transducteurs à ultrasons. La pluralité de transducteurs à ultrasons comprend un premier groupe et un deuxième groupe. Les signaux reçus depuis le premier groupe sont envoyés au deuxième circuit de retard/addition par l’intermédiaire du/des premier(s) circuit(s) de retard/addition, et les signaux reçus depuis le deuxième groupe sont envoyés directement au deuxième circuit de retard/addition sans passer par le(s) premier(s) circuit(s) de retard/addition.
(JA) 超音波探触子は、複数の超音波振動子を有する。超音波探触子は、複数の超音波振動子のうち所定の数を1つのサブアレイとして構成し、サブアレイに含まれる超音波振動子から得られる超音波の受信信号をサブアレイ単位で遅延処理及び加算処理する少なくとも1つの第1の遅延加算回路と、超音波振動子から得られる超音波の受信信号を遅延処理及び加算処理する第2の遅延加算回路と、を含む受信系回路に接続される。複数の超音波振動子は、受信信号を第1の遅延加算回路を介して第2の遅延加算回路に送信する第1のグループと、受信信号を第1の遅延加算回路を介さずに第2の遅延加算回路に直接送信する第2のグループと、を含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)