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1. (WO2014087493) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CRÉATION DE MOTIF DE TEST, ET DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE VÉRIFICATION DE LOGICIEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/087493    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/081419
Date de publication : 12.06.2014 Date de dépôt international : 04.12.2012
CIB :
G06F 11/28 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : NAKAYA Hiroaki; (JP)
Mandataire : POLAIRE I.P.C.; 7-1, Hatchobori 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040032 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TEST PATTERN CREATION DEVICE AND CREATION METHOD, AND SOFTWARE VERIFICATION DEVICE AND VERIFICATION METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CRÉATION DE MOTIF DE TEST, ET DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE VÉRIFICATION DE LOGICIEL
(JA) テストパタン作成装置と作成方法及びソフトウェア検証装置と検証方法
Abrégé : front page image
(EN)In order to create a test pattern for which a description of the coverage acquisition mechanism is unnecessary and for which there is little verification leakage in the verification of software, a test pattern detection unit (11) divides an input test pattern into prescribed collected units, and forms libraries therefrom. A test coverage measurement unit (13) measures the test coverage by verifying, for each library, the test patterns that have been formed into the library. A library optimization unit (16) uses the measured test coverage and verification priority order information to change the library execution sequence or change a control parameter for the libraries so as to expand the test coverage, thereby creating a new test pattern.
(FR)Afin de créer un motif de test pour lequel une description du mécanisme d'acquisition de couverture est inutile et pour lequel il y a peu de fuites dans la vérification du logiciel, une unité de détection de motif de test (11) divise un motif de test d'entrée en unités collectées prescrites, et forme des bibliothèques à partir de celles-ci. Une unité de mesure de couverture de test (13) mesure la couverture de test en vérifiant, pour chaque bibliothèque, les motifs de test qui ont été formés dans la bibliothèque. Une unité d'optimisation de bibliothèques (16) utilise la couverture de test mesurée et les informations sur l'ordre de priorité de vérification pour modifier la séquence d'exécution de bibliothèque ou modifier un paramètre de commande pour les bibliothèques afin d'étendre la couverture de test, ce qui permet de créer un nouveau motif de test.
(JA) ソフトウェアの検証においてカバレッジ取得機構の記述が不要であって検証漏れが少ないテストパタンを作成する。テストパタン検出部11は、入力したテストパタンを所定の纏まった単位に分割してライブラリ化する。テストカバレッジ計測部13は、ライブラリ化されたテストパタンをライブラリ毎に検証してテストカバレッジを計測する。ライブラリ最適化部16は、計測したテストカバレッジと検証優先順位情報を利用して、テストカバレッジが拡大するようライブラリの実行順序を変更、あるいはライブラリの制御パラメータを変更して、新規のテストパタンを作成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)