WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014087189) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE RÉALISATION DE MESURE DE RÉFLEXION SUR DES LUNETTES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/087189    N° de la demande internationale :    PCT/IB2012/003011
Date de publication : 12.06.2014 Date de dépôt international : 04.12.2012
CIB :
G01B 11/06 (2006.01), G01N 21/55 (2014.01), G01N 21/84 (2006.01), G02B 7/02 (2006.01)
Déposants : ESSILOR INTERNATIONAL (COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE) [FR/FR]; 147 rue de Paris F-94220 Charenton Le Pont (FR)
Inventeurs : POPHILLAT, Olivier; (FR).
GUEU, Stéphane; (FR)
Mandataire : BOIRE, Philippe; Cabinet Plasseraud 52 rue de la Victoire F-75440 Paris Cedex 09 (FR)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING A REFLECTION MEASUREMENT ON AN EYEGLASS
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE RÉALISATION DE MESURE DE RÉFLEXION SUR DES LUNETTES
Abrégé : front page image
(EN)An eyeglass support is adapted for pinch-holding the eyeglass (5) between three first contact portions (41-43) and three second contact portions (61-63). The first contact portions form a height reference for positioning the eyeglass whereas the second contact portions ensure application of the eyeglass against the first contact portions while conforming to any possible shape for the eyeglass. The support suits for being incorporated in a reflection measurement apparatus. In particular, it is useful for measuring reflection of eyeglasses provided with antireflecting coatings or for rating a protection against UV hazards which is provided by an eyeglass to a wearer of said eyeglass.
(FR)Selon la présente invention, un support de lunettes est conçu pour maintenir par pinçage les lunettes (5) entre trois premières parties (41-43) contact et trois secondes parties (61-63) contact. Les premières parties contact forment une référence de hauteur pour positionnement des lunettes alors que les secondes parties contact garantissent une application des lunettes contre les premières parties contact tout en se conformant à une quelconque forme possible des lunettes. Le support est approprié pour être incorporé dans un appareil de mesure de réflexion. En particulier, il est utile pour la mesure de réflexion de lunettes comportant des revêtements antireflets ou pour évaluation d'une protection vis-à-vis de risques dus à l'ultraviolets (UV) qui est fournie par des lunettes à un porteur desdites lunettes.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)