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1. (WO2014085793) ANALYSE ÉVOLUÉE ET AUTOMATIQUE DE DÉFAILLANCES DE TESTS RÉCURRENTES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/085793    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/072528
Date de publication : 05.06.2014 Date de dépôt international : 30.11.2013
CIB :
G06F 11/36 (2006.01), G06F 11/07 (2006.01)
Déposants : MICROSOFT TECHNOLOGY LICENSING, LLC [US/US]; One Microsoft Way Redmond, WA 98052 (US)
Inventeurs : WALTON, Thomas; (US).
WIDJAJA, Herman; (US).
SWAMINATHAN, Anish; (US).
PRECIOUS, Andrew; (US).
SHANKLE, Edwin Bruce, III; (US).
CAMPBELL, Andrew; (US).
EDMISON, Sean; (US).
BEAUDOIN, Jacob; (US)
Données relatives à la priorité :
13/689,754 30.11.2012 US
Titre (EN) ADVANCED AND AUTOMATIC ANALYSIS OF RECURRENT TEST FAILURES
(FR) ANALYSE ÉVOLUÉE ET AUTOMATIQUE DE DÉFAILLANCES DE TESTS RÉCURRENTES
Abrégé : front page image
(EN)In one embodiment, a test case run analyzer may filter out failure events with known causes from a test report. The test case run analyzer may receive a test report of a test case run of an application process. The test case run analyzer may automatically identify a failure event in the test case run. The test case run analyzer may automatically compare the failure event to a failure pattern set. The test case run analyzer may filter the test report based on the failure pattern set.
(FR)Dans un mode de réalisation, un analyseur d'exécution de scénario de test peut filtrer des événements de défaillance avec des causes connues d'un rapport de test. L'analyseur d'exécution de scénario de test peut recevoir un rapport de test d'une exécution de scénario de test d'un processus d'application. L'analyseur d'exécution de scénario de test peut identifier automatiquement un événement de défaillance dans l'exécution de scénario de test. L'analyseur d'exécution de scénario de test peut comparer automatiquement l'événement de défaillance à un ensemble de motifs de défaillance. L'analyseur d'exécution de scénario de test peut filtrer le rapport de test sur la base de l'ensemble de motifs de défaillance.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)