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1. (WO2014083300) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE DE PARAMÈTRE DE SÉDIMENTATION DANS UN ÉCHANTILLON DE MILIEU FLUIDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/083300    N° de la demande internationale :    PCT/GB2013/050607
Date de publication : 05.06.2014 Date de dépôt international : 12.03.2013
CIB :
G01N 33/49 (2006.01), G01N 15/05 (2006.01)
Déposants : MICROVISK LIMITED [GB/GB]; Innovation House St Asaph Business Park, St Asaph Denbighshire LL17 0LJ (GB)
Inventeurs : DUNN, Richard John; (GB).
BELLO FERNANDEZ DE SANMAMED, Lois; (GB).
IBBOTSON, Robert Henry; (GB).
DJAKOV, Vladislav; (GB)
Mandataire : CLARKE, Jeffrey; Harrison Goddard Foote Fountain Precinct Balm Green Sheffield Yorkshire S1 2JA (GB)
Données relatives à la priorité :
1221432.6 28.11.2012 GB
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING A SEDIMENTATION PARAMETER IN A FLUID MEDIUM SAMPLE
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE DE PARAMÈTRE DE SÉDIMENTATION DANS UN ÉCHANTILLON DE MILIEU FLUIDE
Abrégé : front page image
(EN)There is provided a method of measuring a sedimentation parameter of suspensions or precipitants in a fluid medium sample, said method compromising providing at least one micro-cantilever sensor, said micro-cantilever sensor comprising at least two materials having different coefficients of thermal expansion, and having a heater and piezo-resistive sensor integrated therein, pulsing the heater with one or more electrical pulses to induce heat generation in the micro-cantilever, sampling the output of the integrated piezo-resistive sensor to characterise a response of the micro-cantilever during sedimentation in the fluid medium sample, and determining a value of the sedimentation parameter from the characterised response. There is also provided an apparatus arranged to carry out the method.
(FR)La présente invention porte sur un procédé de mesure de paramètre de sédimentation de suspensions ou de réactifs précipitants dans un échantillon de milieu fluide, ledit procédé comprenant la fourniture d'au moins un capteur de micro-porte-à-faux, ledit capteur de micro-porte-à-faux comprenant au moins deux matières ayant différents coefficients de dilatation thermique, et ayant un élément chauffant et un capteur piézorésistif intégré dans celui-ci, l'impulsion de l'élément chauffant avec une ou plusieurs impulsions électriques pour induire une génération thermique dans le micro-porte-à-faux, l'échantillonnage de la sortie du capteur piézorésistif intégré pour caractériser une réponse du micro-porte-à-faux durant une sédimentation dans l'échantillon de milieu fluide, et la détermination d'une valeur du paramètre de sédimentation à partir de la réponse caractérisée. La présente invention porte également sur un appareil agencé pour réaliser le procédé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)