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1. (WO2014083153) MÉTHODE ET DISPOSITIF DE MESURE DYNAMIQUE ET IN SITU D'AU MOINS UNE PROPRIÉTÉ D'UN SUBSTRAT POLYMÉRIQUE SOLIDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/083153    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/075077
Date de publication : 05.06.2014 Date de dépôt international : 29.11.2013
CIB :
G01N 17/00 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITÉ BLAISE PASCAL - CLERMONT II [FR/FR]; 34 avenue Carnot F-63006 Clermont-Ferrand Cedex 1 (FR).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (C.N.R.S) [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris (FR).
ECOLE NATIONALE SUPERIEURE DE CHIMIE DE CLERMONT FERRAND [FR/FR]; Ensemble scientifique des Cézeaux 24 avenue des Landais BP 187 F-63174 Aubiere Cedex (FR)
Inventeurs : BUSSIERE, Pierre-Olivier; (FR).
THERIAS, Sandrine; (FR).
GARDETTE, Jean-Luc; (FR).
BERTHUMEYRIE, Sébastien; (FR).
TOURNEBIZE, Aurélien; (FR)
Mandataire : BALMEFREZOL, Ludovic; Lavoix 62, rue de Bonnel F-69003 Lyon (FR)
Données relatives à la priorité :
1261500 30.11.2012 FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR DYNAMIC IN SITU MEASUREMENT OF AT LEAST ONE PROPERTY OF A SOLID POLYMERIC SUBSTRATE
(FR) MÉTHODE ET DISPOSITIF DE MESURE DYNAMIQUE ET IN SITU D'AU MOINS UNE PROPRIÉTÉ D'UN SUBSTRAT POLYMÉRIQUE SOLIDE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method and device for dynamic in situ measurement of at least one property of a solid polymeric substrate, in which a holder and a sample of the substrate are placed between a radiation source and a measuring tool.
(FR)L'invention concerne une méthode et un dispositif de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété d'un substrat polymérique solide pour lesquels un support et un échantillon du substrat sont placés entre une source de rayonnement et un outil de mesure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)