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1. (WO2014082742) SONDE DE CONTACT À CANTILEVER POUR TÊTE D'ESSAI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/082742    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/003587
Date de publication : 05.06.2014 Date de dépôt international : 27.11.2013
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), G01R 1/067 (2006.01)
Déposants : TECHNOPROBE S.P.A. [IT/IT]; Via Cavalieri di Vittorio Veneto, 2 I-23870 Cernusco Lombardone (Lecco) (IT)
Inventeurs : VETTORI, Riccardo; (IT).
BERTARELLI, Emanuele; (IT).
DIEGIDIO, Marco; (IT)
Mandataire : BOTTI, Mario; Via Cappellini, 11 I-20124 Milano (IT)
Données relatives à la priorité :
MI2012A 002023 28.11.2012 IT
Titre (EN) CANTILEVER CONTACT PROBE FOR A TESTING HEAD
(FR) SONDE DE CONTACT À CANTILEVER POUR TÊTE D'ESSAI
Abrégé : front page image
(EN)A cantilever contact probe (20, 20', 20") comprising at least a probe body (21) and a hook-shaped end portion (22), being joined to the probe body (21) and ending with a slanted section (23) being configured as a hook, the end portion (22) being bent at a bending point (24) having a suitable inclination of the hooked slanted section (23) with respect to a longitudinal extension axis of the probe (20, 20', 20") and ending with a contact tip (25) being able to assure a mechanical and electrical contact with a contact pad of a device under test. Advantageously, the probe comprises at least a reduced portion (26, 26') having a first area (Al) with at least a first size (B) being smaller than a corresponding first size (Β') of a second area (A2) of said probe in a section which does not comprise the reduced portion (26, 26% along a side by side placing direction of the probes (Dir) within a testing head, the reduced portion (26, 26' being substantially reduced along its sides thus forming an area having a reduced cross size being placed edgeways.
(FR)La présente invention concerne une sonde de contact à cantilever (20, 20', 20") comprenant au moins un corps de sonde (21) et une partie terminale en forme de crochet (22) fixée au corps de sonde (21) et se terminant par une section inclinée (23) en forme de crochet, la partie terminale (22) étant courbée à un point de courbure (24) pour donner une inclinaison appropriée à la section inclinée en crochet (23) par rapport à l'axe d'extension longitudinale de la sonde (20, 20', 20") et se terminant par une pointe de contact (25) capable d'assurer un contact mécanique et électrique avec un plot de connexion d'un dispositif à tester. De manière avantageuse, la sonde comprend au moins une partie réduite (26, 26') présentant une première zone (Al) ayant au moins une première taille (B) plus petite qu'une première taille correspondante (Β') d'une seconde zone (A2) de ladite sonde dans une section qui ne comprend pas la partie réduite (26, 26') le long d'une direction de placement côte à côte des sondes (Dir) dans une tête d'essai, la partie réduite (26, 26') étant essentiellement réduite le long de ses côtés pour ainsi former une zone ayant une dimension transversale réduite placée sur le chant.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)