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1. (WO2014082327) CIRCUIT D'ATTAQUE DE RÉTROÉCLAIRAGE À DEL, MODULE DE RÉTROÉCLAIRAGE, ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/082327    N° de la demande internationale :    PCT/CN2012/086093
Date de publication : 05.06.2014 Date de dépôt international : 07.12.2012
CIB :
G09G 3/34 (2006.01), G09G 3/36 (2006.01)
Déposants : SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; No.9-2 Tangming Rd., Guangming New District Shenzhen, Guangdong 518132 (CN)
Inventeurs : ZHANG, Hua; (CN)
Mandataire : SHENZHEN BAIRUI PATENT & TRADEMARK OFFICE; Room 205 Building A, Yihua complex Building, Zhuzi Lin Futian District Shenzhen, Guangdong 518040 (CN)
Données relatives à la priorité :
201210501274.X 30.11.2012 CN
Titre (EN) LED BACKLIGHT DRIVER CIRCUIT, BACKLIGHT MODULE, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE
(FR) CIRCUIT D'ATTAQUE DE RÉTROÉCLAIRAGE À DEL, MODULE DE RÉTROÉCLAIRAGE, ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES
(ZH) 一种LED背光驱动电路、背光模组和液晶显示装置
Abrégé : front page image
(EN)An LED backlight driver circuit comprises a light bar, and a power supply module coupled with the light bar. The light bar is connected to the power supply module through a flexible circuit board, the light bar is serially connected to a measuring resistor (R1), and test points (TX1, ΤΧ2) are respectively arranged on two ends of the measuring resistor (R1). Because the test points (TX1, ΤΧ2) are added to the two ends of the measuring resistor (R1), a probe of a measuring tool such as a universal meter can reliably contact the test points (TX1, ΤΧ2) and may not easily contact other components, so that the reliability of measurement is improved. When an oscilloscope is used for measurement, fine wires may also be directly welded on the test points (TX1, ΤΧ2), and the test points (TX1, ΤΧ2) are kept away from a bonding pad of the measuring resistor (R1), so that short circuit may not easily occur between the wires, the operation is convenient, and the reliability is high. Also disclosed are a backlight module and a liquid crystal display device comprising the LED backlight driver circuit.
(FR)L'invention concerne un circuit d'attaque de rétroéclairage à DEL comprenant une barre lumineuse, et un module d'alimentation couplé à la barre lumineuse. La barre lumineuse est connectée au module d'alimentation via une carte de circuit imprimé flexible, la barre lumineuse étant connectée en série à une résistance de mesure (R1), et des points de test (TX1, TX2) sont respectivement agencés sur deux extrémités de la résistance de mesure (R1). Comme les points de test (TX1, TX2) sont ajoutés aux deux extrémités de la résistance de mesure (R1), une sonde d'un outil de mesure tel qu'un contrôleur universel peut entrer de façon fiable en contact avec les points de test (TX1, TX2) et peut ne pas facilement entrer en contact avec d'autres composants, ce qui permet d'améliorer la fiabilité de mesure. Lorsqu'un oscilloscope est utilisé pour réaliser la mesure, des fils fins peuvent également être directement soudés sur les points de test (TX1, TX2), et les points de test (TX1, TX2) sont maintenus à distance d'un plot de connexion de la résistance de mesure (R1), de sorte qu'un court-circuit peut difficilement avoir lieu entre les fils, que l'exploitation est pratique et que la fiabilité est élevée. L'invention concerne également un module de rétroéclairage et un dispositif d'affichage à cristaux liquides comprenant le circuit d'attaque de rétroéclairage à DEL.
(ZH)一种LED背光驱动电路,包括:灯条,与灯条耦合的电源模块,所述灯条与所述电源模块之间通过柔性电路板连接,所述灯条还串联有测量电阻(R1),所述测量电阻(R1)的两端分别设有测试点(TX1、ΤΧ2)。由于在测量电阻(R1)两端增加了测试点(ΤΧ1、ΤΧ2),这样万用表等测量工具的探头就可以跟测试点(ΤΧ1、ΤΧ2)可靠接触,也不容易接触到其他元器件,提升了测量的可靠性。在用示波器测量的时候也可以将细导线直接焊接在测试点(ΤΧ1、ΤΧ2),测试点(ΤΧ1、ΤΧ2)避开了测量电阻(R1)的焊盘,导线之间不容易短路,操作方便,可靠性高。本申请还公开了一种包括上述LED背光驱动电路的背光模组和液晶显示装置。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)