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1. (WO2014081033) RADIAMÈTRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/081033    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/081683
Date de publication : 30.05.2014 Date de dépôt international : 25.11.2013
CIB :
G01T 1/17 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01), G01T 1/24 (2006.01), G01T 1/16 (2006.01), G01T 1/167 (2006.01)
Déposants : HITACHI ALOKA MEDICAL, LTD. [JP/JP]; 6-22-1, Mure, Mitaka-shi, Tokyo 1818622 (JP)
Inventeurs : YAMAGUCHI, Akihito; (JP).
KOBAYASHI, Yusuke; (JP)
Mandataire : YKI PATENT ATTORNEYS; 1-34-12, Kichijoji-Honcho, Musashino-shi, Tokyo 1800004 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-258008 26.11.2012 JP
Titre (EN) RADIATION METER
(FR) RADIAMÈTRE
(JA) 放射線測定器
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a radiation meter comprising a main body and a tip section that is inclined with respect to the main body. A combined detection unit is provided within the tip section. The combined detection unit comprises a semiconductor sensor and a scintillator member. Light generated at the scintillator member and radiation that is incident on said scintillator member are detected by the semiconductor sensor. By selecting a detection method in accordance with the dose rate, it is possible to widen the measurement range.
(FR)La présente invention concerne un radiamètre comprenant un corps principal et une section bout qui est inclinée par rapport au corps principal. Une unité de détection combinée est située à l'intérieur de la section bout. L'unité de détection combinée comprend un capteur à semi-conducteur et un élément scintillateur. La lumière générée au niveau de l'élément scintillateur et le rayonnement qui est incident sur ledit élément scintillateur sont détectés par le capteur à semi-conducteur. Par la sélection d'un procédé de détection conforme au débit de dose, il est possible d'élargir la plage de mesure.
(JA) 放射線測定器は、本体と、本体に対して傾斜した先端部と、を有している。先端部内には複合検出部が設けられている。複合検出部は、半導体センサと、シンチレータ部材と、からなる。半導体センサでは、シンチレータ部材で生じた光が検出され、またそこに入射した放射線が検出される。線量率に応じて検出方式を選択することにより、測定レンジを広げることができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)