WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014080610) SYSTÈME DE CONCEPTION DE SUBSTRAT DE CIRCUITS, PROCÉDÉ DE CONCEPTION DE SUBSTRAT DE CIRCUITS ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT DE PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/080610    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/006761
Date de publication : 30.05.2014 Date de dépôt international : 18.11.2013
CIB :
G06F 17/50 (2006.01), G01R 29/08 (2006.01), H05K 3/00 (2006.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1,Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventeurs : OGAWA, Masashi; (JP)
Mandataire : SHIMOSAKA, Naoki; c/o NEC CORPORATION, 7-1,Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-255557 21.11.2012 JP
Titre (EN) CIRCUIT SUBSTRATE DESIGN SYSTEM, CIRCUIT SUBSTRATE DESIGN METHOD, AND PROGRAM RECORDING MEDIUM
(FR) SYSTÈME DE CONCEPTION DE SUBSTRAT DE CIRCUITS, PROCÉDÉ DE CONCEPTION DE SUBSTRAT DE CIRCUITS ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT DE PROGRAMME
(JA) 回路基板設計システム、回路基板設計方法及びプログラム記録媒体
Abrégé : front page image
(EN)A circuit substrate design system that designs circuit substrates on which semiconductor components are mounted and to which a cable is connected, said design system being equipped with: an input means that receives inputs of substrate design information for a circuit substrate; an EMI characteristics derivation means that derives EMI characteristics generated from the circuit substrate on the basis of the substrate design information; a storage means that stores cable length correction characteristics for the purpose of deriving EMI characteristics; and an output means that outputs the EMI characteristics derived by the EMI characteristics derivation means. In addition, the EMI characteristics derivation means has: an analysis model creation means that creates a simple analysis model provided with a simplified virtual cable on the basis of the substrate design information, as an analysis model for the circuit substrate; a substrate analysis means that calculates the virtual cable current flowing in the virtual cable by performing an electromagnetic field analysis on the simple analysis model; and an EMI calculation means that uses the virtual cable current and the cable length correction characteristics to calculate the actual cable current flowing in the cable, and uses the actual cable current to calculate the characteristics of the EMI radiating from the cable.
(FR)La présente invention concerne un système de conception de substrat de circuits qui conçoit des substrats de circuits sur lesquels des composants semi-conducteurs sont montés et auxquels un câble est connecté. Ledit système de conception comprend : un moyen d'entrée qui reçoit des entrées d'informations de conception de substrat relatives à un substrat de circuits ; un moyen de déduction de caractéristiques d'interférence électromagnétique (EMI) qui déduit des caractéristiques d'interférence électromagnétique produites par le substrat de circuits sur la base des informations de conception de substrat ; un moyen de mémoire qui mémorise des caractéristiques de correction de longueur de câble afin de déduire des caractéristiques d'interférence électromagnétique ; et un moyen de sortie qui sort les caractéristiques d'interférence électromagnétique déduites par le moyen de déduction de caractéristiques d'interférence électromagnétique. De plus, le moyen de déduction de caractéristiques d'interférence électromagnétique comprend : un moyen de création de modèle d'analyse qui crée un modèle d'analyse simple intégrant un câble virtuel simplifié sur la base des informations de conception de substrat, ledit modèle faisant office de modèle d'analyse destiné au substrat de circuits ; un moyen d'analyse de substrat qui calcule le courant du câble virtuel circulant dans le câble virtuel en effectuant une analyse de champ électromagnétique sur le modèle d'analyse simple ; et un moyen de calcul d'interférence électromagnétique qui utilise le courant du câble virtuel et les caractéristiques de correction de longueur de câble pour calculer le courant de câble réel circulant dans le câble, puis utilise le courant de câble réel pour calculer les caractéristiques de l'interférence électromagnétique se propageant à partir du câble.
(JA) 回路基板の基板設計情報を入力する入力手段と、基板設計情報を基に回路基板から発生するEMI特性を導出するEMI特性導出手段と、EMI特性を導出するためのケーブル長補正特性を格納する記憶手段と、EMI特性導出手段によって導出されたEMI特性を出力する出力手段と、を備え、EMI特性導出手段は、基板設計情報を基に回路基板の解析モデルとして簡略化された仮想ケーブルが設けられた簡易解析モデルを作成する解析モデル作成手段と、簡易解析モデルの電磁界解析を行うことによって仮想ケーブルを流れる仮想ケーブル電流を算出する基板解析手段と、仮想ケーブル電流とケーブル長補正特性を用いてケーブルを流れる実ケーブル電流を算出し、実ケーブル電流を用いてケーブルから放射されるEMI特性を算出するEMI計算手段と、を有し、半導体部品が実装され、かつケーブルが接続された回路基板を設計する回路基板設計システム。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)