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1. (WO2014080493) SPECTROMÈTRE DE MASSE À QUADRUPÔLE EN TANDEM
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/080493    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/080327
Date de publication : 30.05.2014 Date de dépôt international : 22.11.2012
CIB :
G01N 27/62 (2006.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventeurs : UEDA, Manabu; (JP)
Mandataire : KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TANDEM QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE DE MASSE À QUADRUPÔLE EN TANDEM
(JA) タンデム四重極型質量分析装置
Abrégé : front page image
(EN)A process condition parameter storage unit (51) for a control unit (50) is provided with a dwell time calculation table (51a) indicating the correspondence between CID gas pressure in a collision cell (31) and dwell time for data collection. In the table (51a), the dwell time increases with higher CID gas pressure. When execution of MRM measurement mode is instructed, the control unit (50) determines the dwell time according to the CID gas pressure at that time, and controls a data collecting unit (41) so as to integrate detection signals from an ion detector (34) during the dwell time and obtain an integrated value. When the CID gas pressure of the collision cell (31) is high, ion deceleration is conspicuous and the increase in ionic strength is slow, but when the dwell time is longer, the impact of the slow increase on the integrated value is relatively mitigated and the precision of the integratedvalue is improved. Thus, quantification precision can be improved.
(FR)L'invention concerne une unité de stockage de paramètre de condition de processus (51) pour une unité de commande (50) qui est dotée d'une table de calcul de durée de maintien de la pression (51a) indiquant la correspondance entre la pression de gaz de dissociation induite par collisions (CID) dans une cellule de collision (31) et la durée de maintien de la pression pour la collecte de données. Dans la table (51a), la durée de maintien de la pression augmente avec une pression de gaz de CID supérieure. Lorsque l'exécution du mode de mesure à surveillance de réactions multiples (MRM) est ordonnée, l'unité de commande (50) détermine la durée de maintien de la pression en fonction de la pression de gaz de CID à ce moment-là et commande une unité de collecte de données (41) de manière à intégrer des signaux de détection d'un détecteur d'ions (34) pendant la durée de maintien de la pression et à obtenir une valeur intégrée. Lorsque la pression de gaz de CID de la cellule de collision (31) est élevée, la décélération des ions est manifeste et l'augmentation de la force ionique est lente, mais lorsque la durée de maintien de la pression est plus longue, l'impact de l'augmentation lente sur la valeur intégrée est relativement atténué et la précision de la valeur intégrée est améliorée. Ainsi, la précision de quantification peut être améliorée.
(JA) 制御部(50)の処理条件パラメータ記憶部(51)には、コリジョンセル(31)内のCIDガス圧とデータ収集のためのドエル時間との対応関係を示すドエル時間算出テーブル(51a)を設ける。このテーブル(51a)では、CIDガス圧が高いほどドエル時間は長くなっている。MRM測定モードの実行が指示されると、制御部(50)はそのときのCIDガス圧に応じてドエル時間を決定し、このドエル時間の間、イオン検出器(34)からの検出信号を積算して積算値を求めるようにデータ収集部(41)を制御する。コリジョンセル(31)のCIDガス圧が高いとイオンの速度低下が顕著になり、イオン強度の立上りが緩慢になるが、ドエル時間が長くなると積算値に対する緩慢な立上りの影響が相対的に軽減され、積算値の精度が向上する。これによって、定量精度を向上することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)