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1. (WO2014080207) ANALYSE ET USINAGE D'UN PROFIL OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/080207    N° de la demande internationale :    PCT/GB2013/053075
Date de publication : 30.05.2014 Date de dépôt international : 21.11.2013
CIB :
G01M 11/02 (2006.01), G02B 3/00 (2006.01), G02B 5/18 (2006.01), G02B 27/42 (2006.01), B24B 13/06 (2006.01)
Déposants : TAYLOR HOBSON LIMITED [GB/GB]; 2 New Star Road Leicester Leicestershire LE4 9JQ (GB) (Tous Sauf US).
RAYER, Mathieu [--/GB]; (GB) (US only)
Inventeurs : RAYER, Mathieu; (GB)
Mandataire : CLARK, Jane Anne; Mathys & Squire LLP The Shard 32 London Bridge Street London SE1 9SG (GB)
Données relatives à la priorité :
1221221.3 26.11.2012 GB
Titre (EN) ANALYSING AND MACHINING AN OPTICAL PROFILE
(FR) ANALYSE ET USINAGE D'UN PROFIL OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)In one aspect the invention relates to an apparatus for analysing at least one measured optical profile of a machined workpiece, the apparatus comprising: an analysis module configured to: receive nominal optical profile data representing a desired profile of a workpiece as designed in a current design step; receive a plurality of measured optical profile data corresponding to a plurality of machined workpieces; for each measured optical profile data, determine a difference between the measured optical profile data and the nominal optical profile data; remove non-systematic machining errors from the determined difference, by determining an average of the plurality of determined differences; and output the determined average, corresponding to errors on the profile due to machining which are systematic machining errors, to a design module, in order to enable the design module to take into account the systematic machining errors in a further design step of the desired workpiece.
(FR)Un aspect de l'invention porte sur un appareil pour analyser au moins un profil optique mesuré d'une pièce à travailler usinée, lequel appareil comprend : un module d'analyse configuré de façon à : recevoir des données de profil optique nominales représentant un profil désiré d'une pièce à travailler, tel qu'il est conçu dans une étape de conception en cours; recevoir une pluralité de données de profil optique mesurées correspondant à une pluralité de pièces à travailler usinées; pour chaque donnée de profil optique mesurée, déterminer une différence entre les données de profil optique mesurées et les données de profil optique nominales; retirer des erreurs d'usinage non systématiques à partir de la différence déterminée, par détermination d'une moyenne de la pluralité de différences déterminées; et délivrer en sortie la moyenne déterminée, correspondant à des erreurs sur le profil dues à un usinage qui sont des erreurs d'usinage systématiques, à un module de conception, de façon à permettre au module de conception de tenir compte des erreurs d'usinage systématiques dans une étape de conception supplémentaire de la pièce à travailler désirée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)