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1. (WO2014079913) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CONTRÔLE D'UNE PIÈCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/079913    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/074348
Date de publication : 30.05.2014 Date de dépôt international : 21.11.2013
CIB :
G01R 1/067 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01)
Déposants : KONRAD GMBH [DE/DE]; 12, Fritz-Reichle-Ring 78315 Radolfzell (DE)
Inventeurs : KONRAD, Michael; (DE).
WERNER, Stefan; (DE)
Mandataire : DR. WEISS & ARAT; Zeppelinstrasse 4 78234 Engen (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2012 111 215.0  21.11.2012 DE
10 2012 111 216.9  21.11.2012 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM PRÜFEN EINES WERKSTÜCKS
(EN) METHOD AND DEVICE FOR TESTING A WORKPIECE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CONTRÔLE D'UNE PIÈCE
Abrégé : front page image
(DE)Bei einem Verfahren zum Prüfen eines Werkstücks (3), insbesondere einer Leiterplatte, mittels einem an einer Halterung (1) angeordneten Prüfstift (2), der eine vorbestimmte Position auf oder in dem Werkstück (3) anfährt, soll eine Lage des Prüfstifts (2) gegenüber der Halterung (1) verändert werden.
(EN)In a method for testing a workpiece (3), in particular a circuit board, by means of a test pin (2) arranged on a holder (1), said test pin (2) approaching a predetermined position on or in the workpiece (3), a position of the test pin (2) with respect to the holder (1) is intended to be changed.
(FR)L'invention concerne un procédé de contrôle d'une pièce (3), en particulier d'une carte de circuits imprimés, au moyen d'une tige de contrôle (2) disposée sur un élément de retenue (1), laquelle tige occupe une position prédéfinie sur ou dans la pièce (3). L'invention vise à modifier une position de la tige de contrôle (2) par rapport à l'élément de retenue (1).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)