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1. (WO2014077057) DISPOSITIF DE MESURE D'UNE IMAGE OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/077057    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/077470
Date de publication : 22.05.2014 Date de dépôt international : 09.10.2013
CIB :
A61B 3/10 (2006.01), A61B 3/14 (2006.01), G01N 21/17 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOPCON [JP/JP]; 75-1, Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580 (JP)
Inventeurs : SHIMIZU,Hitoshi; (JP).
FUJIMURA,Takashi; (JP)
Mandataire : MISAWA PATENT OFFICE, P.C.; Nippan Bldg., 15-8, Nishishinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-253281 19.11.2012 JP
Titre (EN) OPTICAL IMAGE MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D'UNE IMAGE OPTIQUE
(JA) 光画像計測装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an optical image measuring device which has a high lateral resolution and is capable of obtaining a generally sharp image. The optical image measuring device according to an embodiment comprises an optical system, an image formation unit, a control unit and a synthetic tomographic image formation unit. The optical system includes a scanning unit which changes an irradiation position of a signal light upon an object and an in-focus position changing unit which changes an in-focus position of the signal light. The optical system detects interference light between return light of each signal light from the object and reference light. The image formation unit forms a tomographic image on the basis of the detection result of a plurality of beams of the interference light that correspond to a plurality of irradiation positions of the signal light. The control unit changes the in-focus position and repetitively irradiates the plurality of irradiation positions with the signal light by controlling the optical system. The synthetic tomographic image formation unit forms one synthetic tomographic image on the basis of two or more tomographic images formed by the image formation unit on the basis of the result of repetitive signal light irradiation.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure d'une image optique ayant une résolution latérale élevée et permettant d'obtenir une image généralement précise. Le dispositif de mesure d'une image optique selon un mode de réalisation comprend un système optique, une unité de formation d'image, une unité de commande et une unité de formation d'image tomographique de synthèse. Le système optique comprend une unité de balayage qui change de position de rayonnement d'une lumière de signal sur un objet et une unité de changement de position focale qui change la position focale de la lumière du signal. Le système optique détecte la lumière d'interférence entre la lumière réfléchie par l'objet provenant de chaque lumière de signal et une lumière de référence. L'unité de formation d'image forme une image tomographique sur la base du résultat de détection d'une pluralité de faisceaux de la lumière d'interférence qui correspond à une pluralité de positions de rayonnement de la lumière du signal. L'unité de commande change la position focale et dirige de manière répétée un rayon lumineux de signal sur la pluralité de positions de rayonnement en commandant le système optique. L'unité de formation d'image tomographique de synthèse forme une image tomographique de synthèse sur la base de deux images tomographiques ou plus formées par l'unité de formation d'image sur la base du résultat du rayonnement lumineux de signal répétitif.
(JA) 横分解能が高く、かつ全体的にシャープな画像を取得可能な光画像計測装置を提供する。実施形態の光画像計測装置は、光学系と、画像形成部と、制御部と、合成断層像形成部とを有する。光学系は、対象物に対する信号光の照射位置を変更する走査部と、信号光の合焦位置を変更する合焦位置変更部とを含む。光学系は、各信号光の対象物からの戻り光と参照光との干渉光を検出する。画像形成部は、信号光の複数の照射位置に対応する複数の干渉光の検出結果に基づいて断層像を形成する。制御部は、光学系を制御することにより、合焦位置を変更させつつ複数の照射位置に対して信号光を反復的に照射させる。合成断層像形成部は、反復的な信号光の照射の結果に基づき画像形成部により形成された2以上の断層像に基づいて、1の合成断層像を形成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)