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1. (WO2014076789) DISPOSITIF DE PARAMÉTRAGE DE RÉGIONS D'ANALYSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/076789    N° de la demande internationale :    PCT/JP2012/079617
Date de publication : 22.05.2014 Date de dépôt international : 15.11.2012
CIB :
G01N 21/35 (2014.01)
Déposants : SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventeurs : NODA, Akira; (JP).
MAEKAWA, Hiroshi; (JP)
Mandataire : KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ANALYSIS REGION SETTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE PARAMÉTRAGE DE RÉGIONS D'ANALYSE
(JA) 分析対象領域設定装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an analysis region setting device capable of promptly and accurately setting an analysis region as intended by the user without requiring complex operations. The analysis region setting device according to the present invention is a device for setting an analysis region, which is a region to be analyzed by an analyzing device, in an observation image of a sample, said analysis region setting device comprising: a feature amount calculating means for segmenting the observation image into a plurality of regions and calculating a prescribed image feature amount in each segmented region; a segmented region specifying means for a user to use to specify a plurality of the segmented regions; a feature amount range calculating means for setting, from the image feature amounts of the segmented regions specified by the segmented region specifying means, a range of image feature amounts for the segmented regions that are to be extracted as analysis regions; and a region extracting means for extracting, from the observation image, the segmented regions with image features within the aforementioned range.
(FR)Cette invention concerne un dispositif de paramétrage de régions d'analyse capable de paramétrer rapidement et précisément une région d'analyse telle qu'envisagée par l'utilisateur sans nécessiter d'opérations complexes. Le dispositif de paramétrage de régions d'analyse selon l'invention est un dispositif permettant de paramétrer une région d'analyse, qui est la région à analyser par un dispositif d'analyse, dans une image d'observation d'un échantillon, ledit dispositif de paramétrage de régions d'analyse comprenant : un moyen de calcul de la somme de caractéristiques pour segmenter l'image d'observation en une pluralité de régions et calculer la somme de caractéristiques de l'image prescrite dans chaque région segmentée ; un moyen de spécification de régions segmentées permettant à l'utilisateur de spécifier une pluralité de régions segmentées ; un moyen de calcul de fourchette de sommes de caractéristiques pour paramétrer, à partir des sommes de caractéristiques d'image des régions segmentées spécifiées par le moyen de spécification de régions segmentées, une fourchette des sommes de caractéristiques d'image pour les régions segmentées qui seront extraites à titre de régions d'analyse ; et un moyen d'extraction de régions pour extraire, de l'image d'observation, les régions segmentées ayant des caractéristiques d'image dans la fourchette précitée.
(JA) 煩雑な作業を要することなく、ユーザの意図した通りに迅速且つ的確に分析対象領域を設定することができる分析対象領域設定装置を提供する。本発明に係る分析対象領域設定装置は、試料の観察画像中に、分析装置により分析を行う領域である分析対象領域を設定する装置であって、前記観察画像を複数の領域に分割し、各分割領域における所定の画像特徴量を算出する特徴量算出手段と、前記分割領域を複数、ユーザに指定させる分割領域指定手段と、前記分割領域指定手段により指定された各分割領域の画像特徴量から、前記分析対象領域として抽出する分割領域の画像特徴量の範囲を定める特徴量範囲算出手段と、前記観察画像より、画像特徴量が前記範囲内にある分割領域を抽出する領域抽出手段とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)