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1. (WO2014075868) APPAREIL POUR L'ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ D'UN ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/075868    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/071822
Date de publication : 22.05.2014 Date de dépôt international : 18.10.2013
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/06 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01)
Déposants : PERKINELMER CELLULAR TECHNOLOGIES GERMANY GMBH [DE/DE]; Schnackenburgallee 114 22525 Hamburg (DE)
Inventeurs : STANGE, Roland; (DE).
LÜPKE, Stefan; (DE)
Mandataire : VON KREISLER SELTING WERNER; Deichmannhaus am Dom Bahnhofsvorplatz 1 50667 Köln (DE)
Données relatives à la priorité :
12193071.3 16.11.2012 EP
Titre (EN) APPARATUS FOR STRUCTURED ILLUMINATION OF A SPECIMEN
(FR) APPAREIL POUR L'ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ D'UN ÉCHANTILLON
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus for structured illumination of a specimen (32) comprises an illumination device (10) for generating illumination beams (12). The illumination beams (12) are incident on a mask device (26), wherein openings (24) provided in the mask device (26) serve for generating a mask image. The mask image is imaged within the specimen (32) with the aid of an objective (30). Detection beams (38) generated by the specimen are captured by a detection device (42). For increasing the intensity of the observation beams entering the specimen (32), those beams which do not pass through the openings (24), are collected with the aid of a beam collector (20) and guided back to the mask device (26).
(FR)La présente invention a trait à un appareil qui est destiné à l'éclairage structuré d'un échantillon (32) et qui comprend un dispositif d'éclairage (10) conçu pour générer des faisceaux d'éclairage (12). Les faisceaux d'éclairage (12) frappent sur un dispositif de masquage (26), les ouvertures (24) pratiquées dans le dispositif de masquage (26) servant à produire une image de masquage. L'image de masquage est imagée dans l'échantillon (32) à l'aide d'un objectif (30). Les faisceaux de détection (38) générés par l'échantillon sont captés par un dispositif de détection (42). Afin d'accroître l'intensité des faisceaux d'observation pénétrant dans l'échantillon (32), les faisceaux qui ne passent pas à travers les ouvertures (24) sont collectés au moyen d'un collecteur de faisceau (20) et renvoyés vers le dispositif de masquage (26).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)