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1. (WO2014061636) PUCE D'INSPECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/061636    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/077911
Date de publication : 24.04.2014 Date de dépôt international : 15.10.2013
CIB :
G01N 35/00 (2006.01)
Déposants : BROTHER KOGYO KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 15-1,Naeshiro-cho,Mizuho-ku,Nagoya-shi, Aichi 4678561 (JP)
Inventeurs : OSHIKA Yumiko; (JP).
YOSHIMURA Chisato; (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-228491 15.10.2012 JP
Titre (EN) INSPECTION CHIP
(FR) PUCE D'INSPECTION
(JA) 検査チップ
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an inspection chip that improves quantification precision. In the inspection chip (2), a virtual plane (H1) that is parallel to a quantitative surface (T) forms an angle (A) with a sample supply unit wall surface (119). A virtual plane (H2) that is parallel to the quantitative surface (T) forms an angle (B) with a first passage wall surface (120). A virtual plane (H3) that is parallel to the quantitative surface (T) forms an angle (C) with a second passage wall surface (122). A virtual plane (H4) that is parallel to the quantitative surface (T) forms an angle (D) with a holding section wall surface (118). The inspection chip (2) is configured so as to satisfy the following relationships: Angle (A) < Angle (B) < Angle (C); Angle (A) < Angle (D); Angle (D) < Angle (B). By satisfying these relationships, it is possible to accurately perform quantification without causing a shortage of a sample when quantifying said sample using a sample quantification unit (114).
(FR)L'invention concerne une puce d'inspection qui améliore la précision de quantification. Dans la puce d'inspection (2), un plan virtuel (H1) qui est parallèle à une surface quantitative (T) forme un angle (A) avec une surface de paroi (119) d'unité d'alimentation d'échantillon. Un plan virtuel (H2) qui est parallèle à la surface quantitative (T) forme un angle (B) avec une surface de paroi (120) d'un premier passage. Un plan virtuel (H3) qui est parallèle à la surface quantitative (T) forme un angle (C) avec une surface de paroi (122) d'un second passage. Un plan virtuel (H4) qui est parallèle à la surface quantitative (T) forme un angle (D) avec une surface de paroi (118) d'une section de maintien. La puce d'inspection (2) est conçue de manière à satisfaire aux relations suivantes : Angle (A) < Angle (B) < Angle (C) ; Angle (A) < Angle (D); Angle (D) < Angle (B). En satisfaisant à ces relations, il est possible d'effectuer précisément une quantification sans causer de manque d'un échantillon quand on quantifie ledit échantillon au moyen d'une unité de quantification d'échantillon (114).
(JA) 定量精度を向上する検査チップを提供する。 検査チップ2では、定量面Tと平行な仮想面H1と検体供給部壁面119との成す角の角度Aとする。定量面Tと平行な仮想面H2と第一通路壁面120との成す角の角度Bとする。定量面Tと平行な仮想面H3と第二通路壁面122との成す角の角度Cとする。定量面Tと平行な仮想面H4と保持部壁面118との成す角の角度Dとする。検査チップ2では、以下の関係を満たすようになっている。 角度A<角度B<角度C、角度A<角度D、角度D<角度B この関係を満たすことにより、検体定量部114での検体の定量時に、検体の不足を生じることなく正確に定量を行うことができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)