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1. (WO2014061635) DISPOSITIF D'INSPECTION, SYSTÈME D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION, ET PROGRAMME INFORMATIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/061635    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/077910
Date de publication : 24.04.2014 Date de dépôt international : 15.10.2013
CIB :
G01N 35/08 (2006.01), G01N 35/00 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01)
Déposants : BROTHER KOGYO KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 15-1,Naeshiro-cho,Mizuho-ku,Nagoya-shi, Aichi 4678561 (JP)
Inventeurs : OSHIKA Yumiko; (JP).
YOSHIMURA Chisato; (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-228490 15.10.2012 JP
Titre (EN) INSPECTION DEVICE, INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION, SYSTÈME D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION, ET PROGRAMME INFORMATIQUE
(JA) 検査装置、検査システム、検査方法、及びコンピュータプログラム
Abrégé : front page image
(EN)Provided are an inspection device, an inspection system, an inspection method, and a computer program that improve quantification precision. When inspection begins in the inspection device, an inspection chip having a rotation angle of O° is made to revolve (S2) and the action of centrifugal force causes a sample to move from a sample holding unit to a sample supply unit. Next, the revolving inspection chip is rotated to a rotation angle of 85° (S4). The centrifugal force that is acting on a quantification surface forms an angle relative to the quantification surface that is acute on the side of a second passage. The action of the centrifugal force causes the sample to flow into a sample quantification unit via the sample supply unit. Next, the revolving inspection chip is rotated counterclockwise five times as viewed from the front side thereof and the rotation angle of the inspection chip changes to 90° (S7). A rotation controller then causes the inspection chip having a rotation angle of 90° to revolve by driving a spindle motor at a high speed (S8). It is thus possible to accurately quantify a viscous sample of blood or the like using centrifugal force that is stronger than the centrifugal force when driving at a low speed.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'inspection, un système d'inspection, un procédé d'inspection, et un programme informatique qui améliorent la précision de quantification. Lorsque l'inspection commence dans le dispositif d'inspection, une puce d'inspection possédant un angle de rotation de 0° est amenée à tourner (S2) et l'action de la force centrifuge amène un échantillon à se déplacer depuis une unité de support d'échantillon vers une unité de fourniture d'échantillon. Ensuite, la puce d'inspection en rotation est pivotée selon un angle de rotation de 85° (S4). La force centrifuge qui agit sur une surface de quantification forme un angle par rapport à la surface de quantification qui est aigu sur le côté d'un second passage. L'action de la force centrifuge amène l'échantillon à s'écouler vers une unité de quantification d'échantillon par l'intermédiaire de l'unité de fourniture d'échantillon. Ensuite, la puce d'inspection en rotation est pivotée cinq fois dans le sens contraire des aiguilles d'une montre lorsque l'on regarde depuis le côté avant de celle-ci et l'angle de rotation de la puce d'inspection passe à 90° (S7). Un organe de commande de rotation amène ensuite la puce d'inspection présentant un angle de rotation de 90° à tourner en entraînant un moteur à axe à une vitesse élevée (S8). Il est ainsi possible de quantifier avec précision un échantillon visqueux de sang ou analogue à l'aide de la force centrifuge qui est plus forte que la force centrifuge lors d'un entraînement à basse vitesse.
(JA) 定量精度を向上する検査装置、検査システム、検査方法、及びコンピュータプログラムを提供する。検査装置では、検査を開始すると、自転角度が0度の検査チップを公転し(S2)、遠心力の作用により検体が検体保持部から検体供給部に移動する。次に、公転中の検査チップの自転角度が85度に回転される(S4)。定量面に対して、作用する遠心力は、定量面に対して第二通路側の角度が鋭角になる。遠心力の作用により、検体は検体供給部を介して検体定量部に流入する。次に、公転中の検査チップが前方からみて反時計回りに5度自転され、検査チップの自転角度が90度に変化する(S7)。次いで、公転コントローラは主軸モータを高速駆動することにより自転角度が90度の検査チップを公転する(S8)。低速駆動時よりも強い遠心力で、血液等の粘性のある検体を正確に定量できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)