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1. (WO2014061368) DISPOSITIF DE MESURE DE MICROPARTICULE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/061368    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/074002
Date de publication : 24.04.2014 Date de dépôt international : 30.08.2013
CIB :
G01N 15/14 (2006.01), G01N 21/21 (2006.01), G01N 21/49 (2006.01)
Déposants : SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP)
Inventeurs : TAKEUCHI Taichi; (JP).
IMANISHI Shingo; (JP)
Mandataire : WATANABE Kaoru; KUNPU INTELLECTUAL PROPERTY AGENTS, SUCCESS-SENGAKUJI BLDG. 3F, 2-20-29, Takanawa, Minato-ku, Tokyo 1080074 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-227954 15.10.2012 JP
Titre (EN) MICROPARTICLE MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE MICROPARTICULE
(JA) 微小粒子測定装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a microparticle measuring device capable of precisely detecting the position of a microparticle flowing in a channel. A microparticle measuring device having a light irradiating unit for irradiating a microparticle flowing in a channel with light and a scattered light detector for detecting scattered light emitted from the microparticle, wherein the scattered light detector: is provided with an object lens for concentrating light emitted from the microparticle, a light splitting element for splitting scattered light, from light concentrated by the object lens, into a first scattered light and a second scattered light, a first scattered light detector for receiving the s-polarized component, and an astigmatism element that is provided between the light splitting element and the first scattered light detector and that introduces an astigmatism to the first scattered light; and is set so that the relationship between the distance (L) from the rear principal point of the object lens to the front principal point of the astigmatism element and the focal length (f) of the astigmatism element fulfills the following expression (I). 1.5f ≤ L ≤ 2.5f ... (I)
(FR)La présente invention porte sur un dispositif de mesure de microparticule capable de détection de manière précise de la position d'une microparticule circulant dans un canal. La présente invention porte également sur un dispositif de mesure de microparticule ayant une unité d'exposition à une lumière pour exposition d'une microparticule circulant dans un canal à une lumière et un détecteur de lumière diffusée pour détection d'une lumière diffusée émise par la microparticule, le détecteur de lumière diffusée comportant une lentille objectif pour concentration d'une lumière émise par la microparticule, un élément de division de lumière pour division d'une lumière diffusée, à partir d'une lumière concentrée par la lentille objectif, en une première lumière diffusée et une seconde lumière diffusée, un détecteur de première lumière diffusée pour réception de la composante polarisée s, et un élément d'astigmatisme qui est disposé entre l'élément de division de lumière et le détecteur de première lumière diffusée et qui introduit un astigmatisme à la première lumière diffusée ; et étant réglé de telle sorte que la relation entre la distance (L) depuis le point principal arrière de la lentille objectif vers le point principal avant de l'élément d'astigmatisme et la longueur focale (f) de l'élément d'astigmatisme respecte l'expression (I) suivante. 1,5f ≤ L ≤ 2,5f ... (I)
(JA)流路内を通流する微小粒子の位置を高精度で検出することが可能な微小粒子測定装置を提供する。流路を通流する微小粒子に光を照射する光照射部と、微小粒子から発せられた散乱光を検出する散乱光検出部とを有する微小粒子測定装置において、散乱光検出部に、微小粒子から発せられた光を集光する対物レンズと、対物レンズで集光された光のうち散乱光を第1散乱光及び第2散乱光に分割する光分割素子と、S偏光成分を受光する第1散乱光検出器と、光分割素子と第1散乱光検出器との間に配設され、第1散乱光に非点収差を与える非点収差素子とを設け、対物レンズの後側主点から非点収差素子の前側主点までの距離Lと、非点収差素子の焦点距離fとの関係が下記数式Iを満たすようにする。 1.5f≦L≦2.5f ・・・(I)
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)