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1. (WO2014060429) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'ARPENTAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/060429    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/071548
Date de publication : 24.04.2014 Date de dépôt international : 15.10.2013
CIB :
G01C 15/06 (2006.01), G01C 21/16 (2006.01)
Déposants : LEICA GEOSYSTEMS AG [CH/CH]; Heinrich-Wild-Strasse CH-9435 Heerbrugg (CH)
Inventeurs : DUSHA, Damien; (AU)
Mandataire : KAMINSKI HARMANN PATENTANWÄLTE AG; Landstrasse 124 CH-FL-9490 Vaduz (LI)
Données relatives à la priorité :
12188965.3 18.10.2012 EP
Titre (EN) SURVEYING SYSTEM AND METHOD
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'ARPENTAGE
Abrégé : front page image
(EN)Surveying system for measuring the position of a measuring point (1) on the ground, the surveying system comprising a survey pole (10) with a body (13) having a pointer tip (12) for contacting the measuring point (1) and position giving means for making available the coordinative determination of a referenced position, being placed on the body (13) with a defined spatial relationship relative to the tip (12), determination means for repeatedly determining the referenced position of the position giving means and evaluation means (17) for deriving the position of the measuring point (1), wherein the survey pole (10) further comprises an inertial measuring unit (18) placed on the body (13) with a defined spatial relationship relative to the position giving means, the surveying system further comprises IMU-processing means for repeatedly determining inertial state data based on measurements taken by the inertial measuring unit, and the evaluation means (17) are further configured for feeding a predefined filter algorithm with the repeatedly determined referenced position and the repeatedly determined inertial state data and deriving therefrom referenced attitude data for the survey pole (10), taking into account the defined spatial relationship of the inertial measuring unit (18) relative to the position giving means, using a DDF within the predefined filter algorithm, and further using the referenced attitude data for deriving the position of the measuring point (1).
(FR)La présente invention concerne un système d'arpentage, destiné à mesurer la position d'un point (1) de mesure sur le sol. Le système d'arpentage comprend une tige à relevé (10) dotée d'un corps (13) qui présente une extrémité de pointeur (12) afin de faire contact avec le point de mesure (1) et un moyen d'apport de position, destiné à mettre à disposition la détermination de coordonnées d'une position référencée, placé sur le corps (13) avec une relation spatiale définie par rapport à l'extrémité (12), un moyen de détermination, afin de déterminer à plusieurs reprises la position référencée du moyen d'apport de position et du moyen d'évaluation (17) afin de dériver la position du point (1) de mesure, la tige de relevé (10) comprenant en outre une unité (18) de mesure inertielle, placée sur le corps (13) avec une relation spatiale définie par rapport au moyen d'apport de position, le système d'arpentage comprenant en outre un moyen de traitement IMU, afin de déterminer à plusieurs reprises les données d'état inertiel, sur la base des mesures prises par l'unité de mesure inertielle, et le moyen d'évaluation (17) sont également conçus pour alimenter un algorithme de filtre prédéfini avec la position référencée, déterminée à plusieurs reprises, et les données d'état inertiel déterminées à plusieurs reprises et issus des données d'attitude référencées pour la tige de relevé (10), en tenant compte de la relation spatiale définie de l'unité (18) de mesure inertielle, par rapport au moyen d'apport de position, à l'aide d'un DDF dans l'algorithme de filtre prédéfini et à l'aide également des données d'attitude référencées pour dériver la position du point (1) de mesure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)