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1. (WO2014030617) FILM D'ALLIAGE D'ALUMINIUM POUR ÉLECTRODE SEMI-TRANSPARENTE DE DISPOSITIF D'AFFICHAGE EN PANNEAU PLAT, ET ÉLECTRODE SEMI-TRANSPARENTE POUR DISPOSITIF D'AFFICHAGE EN PANNEAU PLAT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/030617    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/072119
Date de publication : 27.02.2014 Date de dépôt international : 19.08.2013
CIB :
G09F 9/30 (2006.01), C22C 21/00 (2006.01), C22C 21/02 (2006.01), H01B 5/14 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01), H05B 33/28 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA KOBE SEIKO SHO (KOBE STEEL, LTD.) [JP/JP]; 2-4, Wakinohama-Kaigandori 2-chome, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6518585 (JP)
Inventeurs : SHIDA Yoko; .
GOTO Hiroshi;
Mandataire : HAMADA Yuriko; Eikoh Patent Firm, Toranomon East Bldg. 10F, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-185030 24.08.2012 JP
Titre (EN) AL ALLOY FILM FOR SEMITRANSPARENT ELECTRODE OF FLAT PANEL DISPLAY, AND SEMITRANSPARENT ELECTRODE FOR FLAT PANEL DISPLAY
(FR) FILM D'ALLIAGE D'ALUMINIUM POUR ÉLECTRODE SEMI-TRANSPARENTE DE DISPOSITIF D'AFFICHAGE EN PANNEAU PLAT, ET ÉLECTRODE SEMI-TRANSPARENTE POUR DISPOSITIF D'AFFICHAGE EN PANNEAU PLAT
(JA) フラットパネルディスプレイの半透過電極用Al合金膜、およびフラットパネルディスプレイ用半透過電極
Abrégé : front page image
(EN)An Al alloy film for a semitransparent electrode of a flat panel display contains Si and contains a high melting-point metal and/or a rare earth element. The film satisfies: the initial reflectivity at a wavelength of 550 nm is at least 60%; the transparency at a wavelength of 550 nm is at least 10%; and the change in reflectivity before and after accelerated environmental test in which the film is held at a temperature of 80°C and relative humidity 85% for 96 h is no more than 5.0%.
(FR)L'invention concerne un film d'alliage d'aluminium pour une électrode semi-transparente d'un dispositif d'affichage en panneau plat qui contient du Si et qui contient un métal à point de fusion élevé et/ou un élément des terres rares. Le film satisfait : la réflectivité initiale à une longueur d'onde de 550 nm est d'au moins 60 % ; la transparence à une longueur d'onde de 550 nm est d'au moins 10 % ; et le changement de réflectivité avant et après essai environnemental accéléré dans lequel le film est maintenu à une température de 80°C et une humidité relative de 85 % pour 96 h est inférieur à 5,0 %.
(JA) Siを含むと共に、高融点金属および/または希土類元素を含むフラットパネルディスプレイの半透過電極用Al合金膜。波長550nmでの初期反射率が60%以上、波長550nmでの透過率が10%以上、および温度80℃かつ相対湿度85%で96時間保持する加速環境試験前後の反射率の変化率が5.0%以下を満たす。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)