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1. (WO2014029671) PROCÉDÉ DE DÉCOUPE DE MATÉRIAUX EXTRÊMEMENT DURS AU MOYEN D'UN FAISCEAU D'ÉLECTRONS ET D'UNE GAMME DE VITESSES DE BALAYAGE DU FAISCEAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/029671    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/066967
Date de publication : 27.02.2014 Date de dépôt international : 14.08.2013
CIB :
B23K 15/08 (2006.01), B23K 15/10 (2006.01), B28D 5/00 (2006.01)
Déposants : ELEMENT SIX TECHNOLOGIES LIMITED [GB/GB]; Global Innovation Centre Fermi Avenue Harwell Oxford Didcot Oxfordshire OX11 0QR (GB)
Inventeurs : WORT, Christopher John Howard; (GB)
Mandataire : ATKINSON, Ian Anthony; Element Six Limited Group Intellectual Property Fermi Avenue Harwell Campus Didcot Oxfordshire OX11 0QR (GB)
Données relatives à la priorité :
1215002.5 23.08.2012 GB
61/692,469 23.08.2012 US
Titre (EN) METHOD OF CUTTING SUPER-HARD MATERIALS USING AN ELECTRON BEAM AND A RANGE OF BEAM SCANNING VELOCITIES
(FR) PROCÉDÉ DE DÉCOUPE DE MATÉRIAUX EXTRÊMEMENT DURS AU MOYEN D'UN FAISCEAU D'ÉLECTRONS ET D'UNE GAMME DE VITESSES DE BALAYAGE DU FAISCEAU
Abrégé : front page image
(EN)A method of cutting a super-hard material (8) using an electron beam (6), wherein the electron beam (6) is directed onto a surface of the super-hard material (8) and moved relative to the surface such that the electron beam (6) moves across the surface of the super-hard material (8) at an electron beam scanning velocity in a range 100 to 5000 mms-1 to cut the super-hard material (8).
(FR)L'invention concerne un procédé de découpe d'un matériau extrêmement dur (8) au moyen d'un faisceau d'électrons (6), le faisceau d'électrons (6) étant dirigé sur une surface du matériau extrêmement dur (8) et déplacé par rapport à la surface de sorte que le faisceau d'électrons (6) se déplace à travers la surface du matériau extrêmement dur (8) à une vitesse de balayage du faisceau d'électrons dans une plage de 100 à 5000 mms-1 pour découper le matériau extrêmement dur (8).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)