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1. (WO2014021150) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET SON PROCÉDÉ DE COMMANDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/021150    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/069985
Date de publication : 06.02.2014 Date de dépôt international : 24.07.2013
CIB :
G09G 3/30 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01)
Déposants : SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP)
Inventeurs : KISHI, Noritaka; .
OHARA, Masanori; .
NOGUCHI, Noboru;
Mandataire : SHIMADA, Akihiro; Shimada Patent Firm, Manseian Building, 1-10-3, Yagi-cho, Kashihara-shi, Nara 6340078 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-170013 31.07.2012 JP
2013-028286 15.02.2013 JP
Titre (EN) DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREFOR
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET SON PROCÉDÉ DE COMMANDE
(JA) 表示装置およびその駆動方法
Abrégé : front page image
(EN)With regards to a gate driver, a number n of scanning lines (G1-Gn) are divided into a number p of blocks (BL1-BLp), and each block is provided with a common selection period for selecting a portion or all of a number k of scanning lines that are included in the block, and with a scanning period for selecting in order the number k of scanning lines that are included in the block. A source driver (30) detects the characteristics of a drive transistor via a data line from a pixel circuit (11) corresponding to a scanning line that is selected during the common selection period, corrects data voltage on the basis of the detected characteristics of the drive transistor, and supplies the obtained corrected data voltage to the data line. As a result, instances of insufficient writing time are eliminated, and a display device is provided that is capable of compensating for variations in the characteristics of a drive transistor.
(FR)Dans un circuit d'attaque de grille selon la présente invention, un nombre n de lignes de balayage (G1-Gn) sont divisées en un nombre p de blocs (BL1-BLp), et chaque bloc est pourvu d'une période de sélection commune pour sélectionner tout ou partie d'un nombre k de lignes de balayage qui sont comprises dans le bloc, ainsi que d'une période de balayage pour sélectionner dans l'ordre le nombre k de lignes de balayage qui sont comprises dans le bloc. Un circuit d'attaque de source (30) détecte les caractéristiques d'un transistor d'attaque via une ligne de données provenant d'un circuit de pixels (11) correspondant à une ligne de balayage qui est sélectionnée pendant la période de sélection commune, corrige la tension des données en fonction des caractéristiques détectées du transistor d'attaque, et fournit la tension de données corrigée obtenue à la ligne de données. Les instances de délai d'écriture insuffisant sont ainsi supprimées, et un dispositif d'affichage est fourni qui permet de compenser les variations des caractéristiques d'un transistor d'attaque.
(JA) ゲートドライバは、n本の走査線(G1~Gn)をp個のブロック(BL1~BLp)に分け、各ブロックにつき、当該ブロックに含まれるk本の走査線の全部または一部を選択するための共通選択期間と、当該ブロックに含まれるk本の走査線を順次選択するための走査期間とを設ける。ソースドライバ(30)は、共通選択期間において選択中の走査線に対応する画素回路(11)からデータ線を介して駆動トランジスタの特性を検出し、検出した駆動トランジスタの特性に基づいてデータ電圧を補正して得られた補正後データ電圧をデータ線に供給する。これにより、書き込み時間不足を解消しつつ駆動トランジスタの特性ばらつきを補償可能な表示装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)