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1. (WO2014020159) PROCÉDÉ DE DÉTECTION INTERFÉROMÉTRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/020159    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/066298
Date de publication : 06.02.2014 Date de dépôt international : 02.08.2013
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    30.05.2014    
CIB :
G01B 9/02 (2006.01), G01N 21/45 (2006.01)
Déposants : UNIVERSIDAD POLITÉCNICA DE MADRID [ES/ES]; Ramiro de Maeztu, 7 E-28040 Madrid (ES)
Inventeurs : HOLGADO BOLAÑOS, Miguel; (ES).
SANZA GUTIERREZ, Francisco Javier; (ES).
LAGUNAS HERAS, María Fe; (ES).
LAVIN HUEROS, Alvaro; (ES).
CASQUEL DEL CAMPO, Rafael; (ES)
Mandataire : CALVO RAMÓN, Pablo; ABG Patentes, S.L Avenida de Burgos 16D Edificio Euromor E-28036 Madrid (ES)
Données relatives à la priorité :
12382317.1 03.08.2012 EP
Titre (EN) INTERFEROMETRIC DETECTION METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION INTERFÉROMÉTRIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention is an interferometric detection method which allows improving the limit of detection and taking interferometric measurements with a much higher degree of sensitivity than that allowed by interferometric devices known in the state of the art. The invention is characterized by the use of two interferometric measurements, a first reference measurement in a wavelength range and a second measurement on the observation region in at least the same wavelength range in which it is to be determined whether or not there are changes, where a quotient function, which is the function to be analyzed for establishing parameters determining the change experienced in the observation region with a high degree of sensitivity, is constructed from said measurements.
(FR)La présente invention concerne un procédé de détection interférométrique qui permet d'améliorer la limite de détection et de prendre des mesures interférométriques avec un degré bien plus élevé de sensibilité qu'avec les dispositifs interférométriques connus dans l'état de la technique. L'invention est caractérisée par l'utilisation de deux mesures interférométriques, une première mesure de référence dans une gamme de longueurs d'onde et une seconde mesure sur la région d'observation dans au moins la même gamme de longueurs d'onde dans laquelle il doit être déterminé s'il existe ou non des changements. Une fonction de quotient, qui est la fonction à analyser pour établir les paramètres déterminant le changement subi dans la région d'observation avec un degré élevé de sensibilité, est construite à partir desdites mesures.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)