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1. (WO2014019248) PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN CIRCUIT D'INSPECTION ET ÉCRAN D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/019248    N° de la demande internationale :    PCT/CN2012/079867
Date de publication : 06.02.2014 Date de dépôt international : 09.08.2012
CIB :
G02F 1/1362 (2006.01), G02F 1/1345 (2006.01)
Déposants : SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; NO.9-2,Tangming Rd, Guangming New district, Bao'an District Shenzhen City, Guangdong 518132 (CN) (Tous Sauf US).
CHEN, Cheng-hung [CN/CN]; (CN) (US Seulement)
Inventeurs : CHEN, Cheng-hung; (CN)
Mandataire : CHINA WISPRO INTELLECTUAL PROPERTY LLP.; Room A806, Zhongdi Building China University of Geosciences Base No. 8 Yuexing 3rd Road, High-Tech Industrial Estate Nanshan District, Shenzhen Guangdong 518057 (CN)
Données relatives à la priorité :
201210271456.2 01.08.2012 CN
Titre (EN) METHOD FOR MANUFACTURING INSPECTION CIRCUIT AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL
(FR) PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN CIRCUIT D'INSPECTION ET ÉCRAN D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES
(ZH) 一种检测线路及液晶显示面板的制作方法
Abrégé : front page image
(EN)A method for manufacturing an inspection circuit in a liquid crystal display assembly manufacturing process and a liquid crystal display panel. By arranging a test pad set (108) and a switch set (107), the inspection circuit connects all signal cables (1021 and 1022) of panel units (1011-101N) to corresponding test signal pads (1051 and 1052) in the test pad set (108) respectively via an input end (10712) and an output end (10713) of a control switch (1071) in the switch set (107), while a control end (10711) of the control switch (1071) is electrically connected to control signal pads (1061-106N) to selectively perform individual testing on one among the panel units (1011-101N). This scheme allows for simplification of the inspection circuit and reduction in load for the inspection circuit.
(FR)La présente invention concerne un procédé de fabrication d'un circuit d'inspection au cours d'un processus de fabrication d'un ensemble d'affichage à cristaux liquides, ainsi qu'un écran d'affichage à cristaux liquides. Grâce à l'agencement d'un groupe de plots de connexion d'essai (108) et d'un groupe de commutateurs (107), le circuit d'inspection connecte respectivement tous les câbles de signal (1021 et 1022) des unités d'écran (1011-101N) à des plots de connexion de signal d'essai correspondants (1051 et 1052) dans le groupe de plots de connexion d'essai (108) par l'intermédiaire d'une extrémité d'entrée (10712) et d'une extrémité de sortie (10713) d'un commutateur de commande (1071) dans le groupe de commutateurs (107), tandis qu'une extrémité de commande (10711) du commutateur de commande (1071) est raccordée électriquement à des plots de connexion de signal de commande (1061-106N) de façon à procéder sélectivement à un essai individuel sur une unité d'écran parmi les unités d'écran (1011-101N). Cette approche permet de simplifier le circuit d'inspection et de réduire la charge imposée à celui-ci.
(ZH)一种液晶显示器组立制程中的检测线路及液晶显示面板的制作方法,该检测线路通过设置测试垫集合(108)和开关集合(107),将每个面板单元(1011-101N)的所有信号线(1021,1022)分别通过开关集合(107)中的控制开关(1071)的输入端(10712)和输出端(10713)与测试垫集合(108)中的相应测试信号垫(1051,1052)连接,控制开关(1071)的控制端(10711)则电连接至控制信号垫(1061-106N),以选择性地对一个面板单元(1011-101N)进行单独测试。通过上述方式,能够简化检测线路,减小检测线路的负载。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)