WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014019091) PROCÉDÉ ET SYSTÈME INTERFÉROMÉTRIQUES À DOMAINE SPECTRAL POUR CARACTÉRISATION DE RAYONNEMENT TÉRAHERTZ (THZ)
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/019091    N° de la demande internationale :    PCT/CA2013/050596
Date de publication : 06.02.2014 Date de dépôt international : 01.08.2013
CIB :
G01J 3/45 (2006.01)
Déposants : INSTITUT NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE, [CA/CA]; 490 rue de la Couronne Québec, Québec G1K 9A9 (CA)
Inventeurs : SHARMA, Gargi; (CA).
SINGH, Kanwarpal; (CA).
MORANDOTTI, Roberto; (CA).
OZAKI, Tsuneyuki; (CA)
Mandataire : GOUDREAU GAGE DUBUC; 2000 McGill College Suite 2200 Montréal, Québec H3A 3H3 (CA)
Données relatives à la priorité :
61/678,156 01.08.2012 US
Titre (EN) SPECTRAL-DOMAIN INTERFEROMETRIC METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING TERAHERTZ RADIATION
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME INTERFÉROMÉTRIQUES À DOMAINE SPECTRAL POUR CARACTÉRISATION DE RAYONNEMENT TÉRAHERTZ (THZ)
Abrégé : front page image
(EN)A method and system based on spectral domain interferometry for detecting intense THz electric field, allowing the use of thick crystal for spectroscopic purposes, in order to makes long temporal scans for increased spectral resolutions, and overcoming the limitation of over-rotation for presently available high power THz sources. Using this method and system the phase difference of approximately 8898π can be measured, which is 18000 times higher than the phase difference measured by electro-optic sampling ( π/2 ).
(FR)La présente invention porte sur un procédé et un système basés sur interférométrie de domaine spectral pour détection de champ électrique THz intense, autorisant l'utilisation d'un cristal épais à des fins spectroscopiques, afin de réaliser des balayages temporels longs pour des résolutions spectrales accrues et surmontant la limitation de sur-rotation pour des sources THz haute puissance actuellement disponibles. A l'aide de ce procédé et de ce système, la différence de phase d'approximativement 8898π peut être mesurée, ce qui est 18000 fois supérieure à la différence de phase mesurée par échantillonnage électro-optique (π/2).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)