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1. (WO2014018791) MÉTHODE ET APPAREIL DE RÉGULATION DÉPENDANT DE LA TEMPÉRATURE D'UNE DÉTECTION DE COURANT PAR BATFET
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/018791    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/052122
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 25.07.2013
CIB :
G01R 19/00 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; Attn: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121 (US)
Inventeurs : YU, Baiying; (US).
BAJAJ, Nihit; (US).
STOCKSTAD, Troy; (US).
MIKUTEIT, Eric I.; (US)
Mandataire : HOOKS, William M.; Attn: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, Califonia 92121 (US)
Données relatives à la priorité :
13/558,117 25.07.2012 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR TEMPERATURE ADJUSTED CONTROL OF BATFET CURRENT SENSING
(FR) MÉTHODE ET APPAREIL DE RÉGULATION DÉPENDANT DE LA TEMPÉRATURE D'UNE DÉTECTION DE COURANT PAR BATFET
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus for providing a temperature sensing loop used in connection with a current sensing component, such as a BATFET, in order to compensate for variations in the BATFET's resistance due to temperature variations. The temperature sensing loop detects a temperature of the BATFET and regulates the gate voltage of the BATFET based on the detected temperature in order to compensate for changes in the BATFET's resistance. The temperature sensing feedback loop maintains the BATFET at a constant resistance for current sensing through negative feedback control. The BATFET and temperature sensing loop can be provided as components of an on-chip fuel gauging application for a UE.
(FR)L'invention concerne une méthode et un appareil fournissant une boucle de détection de température utilisée en rapport avec un composant de détection de courant, tel qu'un BATFET, afin de compenser les variations de la résistance du BATFET causées par les variations de température. La boucle de détection de température détecte une température du BATFET et régule la tension de grille du BATFET en fonction de la température détectée afin de compenser les changements de la résistance du BATFET. La boucle de rétroaction de détection de température maintient constante la résistance du BATFET pour la détection de courant grâce à une régulation à rétroaction négative. Le BATFET et la boucle de détection de température peuvent être fournis comme des composants d'une application de jaugeage de carburant sur puce pour un UE.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)