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1. (WO2014018357) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE MESURE DE PERMITTIVITÉ DIÉLECTRIQUE D'ÉCHANTILLONS CYLINDRIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/018357    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/051010
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 18.07.2013
CIB :
G01N 27/02 (2006.01), G01N 33/24 (2006.01), G01V 3/00 (2006.01)
Déposants : SCHLUMBERGER CANADA LIMITED [CA/CA]; 525-3rd Avenue Southwest Calgary, Alberta T2P-0G4 (CA) (CA only).
SERVICES PETROLIERS SCHLUMBERGER [FR/FR]; 42 rue Saint Dominique F-75007 Paris (FR) (FR only).
SCHLUMBERGER HOLDINGS LIMITED [GB/GB]; P.O. Box 71, Craigmuir Chambers, Road Town Tortola, Virgin Island, British, 1110 (VG) (GB, JP, NL only).
SCHLUMBERGER TECHNOLOGY B.V. [NL/NL]; Parkstraat 83-89m NL-2514 JG The Hague (NL) (AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GA, GD, GE, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IS, IT, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, NE, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, ZA, ZM, ZW only).
PRAD RESEARCH AND DEVELOPMENT LIMITED [GB/GB]; P.O. Box 71, Craigmuir Chambers, Road Town Tortola, Virgin Island, British, 1110 (VG) (AE, AO, BF, BH, BJ, CF, CG, CI, CM, CN, GA, GH, GN, GQ, GW, IN, KM, LY, MA, ML, MR, MZ, NA, NE, NG, PH, SD, SN, SY, TD, TG, VN only).
SCHLUMBERGER TECHNOLOGY CORPORATION [US/US]; 300 Schlumberger Drive Sugar Land, Texas 77478 (US) (US only)
Inventeurs : BADRI, Mohammed; (SA).
TAHERIAN, Reza; (SA)
Mandataire : LAFFEY, Bridget M.; 10001 Richmond Avenue IP Administration Center of Excellence Room 4720 Houston, Texas 77042 (US)
Données relatives à la priorité :
13/560,505 27.07.2012 US
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING DIELECTIC PERMITTIVITY OF CYLINDRICAL SAMPLES
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE MESURE DE PERMITTIVITÉ DIÉLECTRIQUE D'ÉCHANTILLONS CYLINDRIQUES
Abrégé : front page image
(EN)An open ended coaxial probe is disclosed that can be used to measure the dielectric properties of solids. According to some embodiments, the probe is specially designed to make good contact with solids having flat or non-flat surfaces. This design relies on forcing a good contact between the solid surface with both the center conductor and outer conductor of the coaxial probe. A method is also described in which the coaxial probe is used to monitor the dielectric permittivity of cylindrical samples such as rock cores drilled from a well. Also described are methods of using the coaxial probe to provide a continuous log of the dielectric permittivity of a rock core.
(FR)La présente invention porte sur une sonde coaxiale à extrémité ouverte qui peut être utilisée pour mesurer les propriétés diélectriques de solides. Selon certains modes de réalisation, la sonde est spécialement conçue pour réaliser un bon contact avec des solides comportant des surfaces plates ou non plates. Cette conception repose sur le fait de forcer un bon contact entre la surface de solide avec le conducteur central et le conducteur extérieur de la sonde coaxiale. La présente invention porte également sur un procédé dans lequel la sonde coaxiale est utilisée pour surveiller la permittivité diélectrique d'échantillons cylindriques tels que des carottes de roche percées depuis un puits. La présente invention porte également sur des procédés d'utilisation de la sonde coaxiale pour fournir une diagraphie continue de la permittivité diélectrique d'une carotte de roche.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)