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1. (WO2014018326) MASSE D'ESSAI ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES DE GRAVITÉ PAR INTERFÉROMÉTRIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/018326    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/050819
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 17.07.2013
CIB :
G01V 7/14 (2006.01)
Déposants : MICRO-G LACOSTE, INC. [US/US]; 1401 Horizon Avenue Lafayette, CO 80026 (US)
Inventeurs : KLOPPING, Fred, J.; (US).
BILLSON, Ryan, M.; (US).
NIEBAUER, Timothy, M.; (US)
Mandataire : LEY, John, R.; John R. Ley, LLC 5299 DTC Boulevard, Suite 340 Greenwood Village, CO 80111-3327 (US)
Données relatives à la priorité :
13/558,138 25.07.2012 US
13/564,548 01.08.2012 US
Titre (EN) TEST MASS AND METHOD FOR INTERFEROMETRIC GRAVITY CHARACTERISTIC MEASUREMENT
(FR) MASSE D'ESSAI ET PROCÉDÉ DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES DE GRAVITÉ PAR INTERFÉROMÉTRIE
Abrégé : front page image
(EN)A test mass used for light beam interferometric gravity characteristic measurement has a center of mass located equidistant and colinear with optical center points of two oppositely reflecting retroreflectors. Rotation of the test mass about its center of mass during freefall changes the path length of the oppositely reflected light beams by equal amounts, thereby achieving common mode cancellation of the effects of test mass rotation when the two reflected light beams are interferometrically combined.
(FR)L'invention concerne une masse d'essai utilisée pour mesurer des caractéristiques de gravité par interférométrie lumineuse, ayant un centre de masse qui est situé à égale distance de points centraux optiques de deux rétroréflecteurs réfléchissant dans des directions opposées et qui est colinéaire avec ces points centraux. Une rotation de la masse d'essai autour de son centre de masse pendant une chute libre modifie de la même manière la longueur de trajet des faisceaux lumineux réfléchis dans des directions opposées, ce qui permet d'obtenir une annulation en mode commun des effets de la rotation de la masse d'essai lorsque les deux faisceaux lumineux réfléchis sont combinés par interférométrie.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)