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1. (WO2014018088) SONDES À ALIGNEMENT AUTOMATIQUE ET DISPOSITIFS ASSOCIÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/018088    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/000169
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 22.07.2013
CIB :
G01N 3/40 (2006.01)
Déposants : THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORINA [US/US]; 1111 Franklin Street, 12th Floor Oakland, CA 94607-5200 (US)
Inventeurs : HANSMA, Paul, K.; (US).
RANDALL, Connor; (US).
BRIDGES, Daniel; (US)
Mandataire : MCKINNEY, Jeffrey, A.; MCKINNEY LAW GROUP APC 851 Moraga Road, Suite B. Lafayette, CA 94549 (US)
Données relatives à la priorité :
61/741,722 25.07.2012 US
Titre (EN) SELF-ALIGNING PROBES AND RELATED DEVICES
(FR) SONDES À ALIGNEMENT AUTOMATIQUE ET DISPOSITIFS ASSOCIÉS
Abrégé : front page image
(EN)The field of the invention generally relates to probes, related devices and methods for measuring material properties. In an embodiment, the present invention provides a test probe for use in a reference point indentation device. The test probe has an end proximal to a tip and an end distal to the tip. The distal end of the test probe has a self-centering mate comprising a countersink of about 90 degrees to about 100 degrees to a depth of between 0.010 in. and 0.035 in.
(FR)L'invention concerne, de façon générale, des sondes, des dispositifs associés et des procédés qui permettent de mesurer des propriétés matérielles. Selon un mode de réalisation, la présente invention concerne une sonde d'essai devant être utilisée dans un dispositif d'essai de dureté par pénétration à point de référence. La sonde d'essai présente une extrémité proximale par rapport à une pointe et une extrémité distale par rapport à la pointe. L'extrémité distale de la sonde d'essai présente une aide à centrage automatique qui comporte un angle de fraisure d'environ 90 degrés à environ 100 degrés à une profondeur entre 0,010 et 0,035 pouces.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)