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1. (WO2014017402) GABARIT DE TEST ET PROCÉDÉ DE FABRICATION POUR CELUI-CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/017402    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/069665
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 19.07.2013
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : YOKOWO CO., LTD. [JP/JP]; 5-11, Takinogawa 7-Chome, Kita-Ku, Tokyo 1148515 (JP)
Inventeurs : YAMAMOTO, Tsugio; (JP)
Mandataire : MURAI, Takashi; Syuwa 2nd Nanpeidai Residence 1102, 12-13, Nanpeidai-cho, Shibuya-ku, Tokyo 1500036 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-165790 26.07.2012 JP
Titre (EN) TEST JIG AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
(FR) GABARIT DE TEST ET PROCÉDÉ DE FABRICATION POUR CELUI-CI
(JA) 検査治具及びその製造方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided are a test jig with a novel design for narrowing the contact pitch compared to conventional jigs, and a manufacturing method therefor. A slit (33b) is provided in the wall (33a) between two guide holes (33) (two adjacent guide holes (33)) that support the respective cylindrical tips (19) of two adjacent first plungers (1) so as to slide freely. The slit (33b) has a smaller width than the outer diameter of the cylindrical tips (19) of the first plungers (1) and extends over the entire length of the guide holes (33) in the longitudinal direction of the first plungers (1) (Z-axis direction). The center position of the slit (33b) in the width direction (X-axis direction) and the center positions of the cylindrical tips (19) in the same direction preferably coincide with each other. The two adjacent guide holes (33) communicate with each other through the slit (33b).
(FR)L'invention porte sur un gabarit de test avec une nouvelle conception pour rétrécir le pas de contact par rapport à des gabarits classiques, et sur un procédé de fabrication pour celui-ci. Une fente (33b) est réalisée dans la paroi (33a) entre deux trous de guidage (33) (deux trous de guidage adjacents (33)) qui tiennent les pointes cylindriques respectives (19) de deux premiers plongeurs adjacents (1) de façon à coulisser librement. La fente (33b) a une largeur inférieure au diamètre externe des pointes cylindriques (19) des premiers plongeurs (1), et s'étend sur la totalité de la longueur des trous de guidage (33) dans la direction longitudinale des premiers plongeurs (1) (direction de l'axe Z). La position centrale de la fente (33b) dans la direction de largeur (direction de l'axe X) et les positions centrales des pointes cylindriques (19) dans la même direction coïncident de préférence entre elles. Les deux trous de guidage adjacents (33) communiquent entre eux par l'intermédiaire de la fente (33b).
(JA) 従来と比較してコンタクトピッチを狭める新たな工夫を施した検査治具及びその製造方法を提供する。 隣り合う2つの第1プランジャー1の先端側円柱部19をそれぞれ摺動自在に支持する2つのガイド孔部33(隣り合う2つのガイド孔部33)の間の壁部33aには、スリット33bが設けられている。スリット33bは、第1プランジャー1の先端側円柱部19の外径よりも小さい幅で、第1プランジャー1の長さ方向(Z軸方向)にガイド孔部33の全長に渡って延びる。スリット33bの幅方向(X軸方向)の中心位置と先端側円柱部19の同方向の中心位置は好ましくは相互に一致する。スリット33bにより隣り合う2つのガイド孔部33が相互に連通する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)