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1. (WO2014017180) DISPOSITIF DE DÉTECTION D'IMAGE DE RAYONNEMENT, SYSTÈME D'IMAGERIE PAR RAYONNEMENT ET SON PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/017180    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/065669
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 06.06.2013
CIB :
A61B 6/00 (2006.01)
Déposants : FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620 (JP)
Inventeurs : TAJIMA, Takashi; (JP).
KUWABARA, Takeshi; (JP).
KITAGAWA, Yusuke; (JP)
Mandataire : KOBAYASHI, Kazunori; Taiyo-seimei-otsuka Bldg. 3F, 25-1, Kita-otsuka 2-chome, Toshima-ku, Tokyo 1700004 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-166876 27.07.2012 JP
2013-109301 23.05.2013 JP
Titre (EN) RADIATION IMAGE DETECTION DEVICE, RADIATION IMAGING SYSTEM, AND OPERATION METHOD THEREFOR
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION D'IMAGE DE RAYONNEMENT, SYSTÈME D'IMAGERIE PAR RAYONNEMENT ET SON PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT
(JA) 放射線画像検出装置、並びに放射線撮影システムおよびその作動方法
Abrégé : front page image
(EN)A radiation image detection device that performs accurate X-ray dose measurement even if the relative positions of a grid and measurement pixels have shifted. An image detection unit (30) is arranged behind the grid (14) having a grid pitch (G). Normal pixels (40a) that detect X-ray images and measurement pixels (40b) that measure X-ray doses are arranged two-dimensionally in the image detection unit (30). Out of one group of measurement pixels (40b) that calculate the average value for dose measurement signals using an Automatic Exposure Control (AEC) unit (54), a number ([C/D]) are arranged or selected using cycle (Z) = (R × C) ± D; C being the cycle for the repeated pattern appearing in the direction of arrangement of an X-ray transmitting layer (35) and an X-ray absorbing layer (36) in the grid (14), on an X-ray image of the grid (14), the unit being the number of pixels, R being a natural number of at least 0, D being an integer smaller than the cycle (C), and [C/D] being the largest integer no greater than C/D. When D = 1, the average value is the same each time, and variation disappears.
(FR)La présente invention porte sur un dispositif de détection d'image de rayonnement qui réalise une mesure précise de dose de rayons X même si les positions relatives d'une grille et de pixels de mesure se sont décalées. Une unité de détection d'image (30) est agencée derrière la grille (14) ayant un pas de grille (G). Des pixels normaux (40a) qui détectent des images radiologiques et des pixels de mesure (40b) qui mesurent des doses de rayons X sont agencés de façon bidimensionnelle dans l'unité de détection d'image (30). En dehors d'un groupe de pixels de mesure (40b) qui calculent la valeur moyenne pour des signaux de mesure de dose à l'aide d'une unité de commande d'exposition automatique (AEC) (54), un nombre ([C/D]) est agencé ou choisi à l'aide d'un cycle (Z)=(R x C) ± D ; C étant le cycle pour le motif répété apparaissant dans la direction d'agencement d'une couche d'émission de rayons X (35) et d'une couche d'absorption de rayons X (36) dans la grille (14), sur l'image radiologique de la grille (14), l'unité étant le nombre de pixels, R étant un nombre naturel d'au moins 0, D étant un nombre entier plus petit que le cycle (C) et [C/D] étant le nombre entier le plus grand non supérieur à C/D. Lorsque D = 1, la valeur moyenne est identique à chaque fois et une variation disparaît.
(JA) グリッドと測定画素との相対位置関係がずれても、正確なX線量測定を行う。 グリッドピッチGのグリッド(14)の背後に、画像検出部(30)が配置される。画像検出部(30)には、X線画像を検出する通常画素(40a)と、X線量を測定する測定画素(40b)とが二次元的に配置されている。AEC部(54)で線量測定信号の平均値を計算する一群の測定画素(40b)を周期Z=(R×C)±Dで[C/D]個配置または選択する。ここで、C:グリッド(14)のX線画像上でグリッド(14)のX線透過層(35)とX線吸収層(36)の配列方向に現れる繰り返しパターンの周期であり、単位は画素の個数、R:0以上の自然数、D:周期Cより小さい整数、[C/D]:C/D以下の最大の整数である。D=1の場合は各回の平均値が同じ値となり、ばらつきがなくなる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)