WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014017037) PROCÉDÉ DE PARAMÉTRAGE D'INFORMATIONS RELATIVES À L'ANISOTROPIE ET À L'ÉPAISSEUR DE PLAQUE, DESTINÉ À UN MODÈLE ANALYTIQUE D'UN ARTICLE MOULÉ, ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE RIGIDITÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/017037    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/004208
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 08.07.2013
CIB :
G06F 17/50 (2006.01)
Déposants : JFE STEEL CORPORATION [JP/JP]; 2-3, Uchisaiwai-cho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000011 (JP)
Inventeurs : SAITO, Takanobu; (JP)
Mandataire : KUMASAKA, Akira; c/o Intellectual Property Division, JFE Techno-Research Corporation, 6th Floor, JFE SHOJI Building, 7-1, Otemachi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000004 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-163522 24.07.2012 JP
Titre (EN) MATERIAL ANISOTROPY INFORMATION AND PLATE THICKNESS INFORMATION SETTING METHOD FOR ANALYTICAL MODEL OF MOLDED ARTICLE, AND RIGIDITY ANALYSIS METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE PARAMÉTRAGE D'INFORMATIONS RELATIVES À L'ANISOTROPIE ET À L'ÉPAISSEUR DE PLAQUE, DESTINÉ À UN MODÈLE ANALYTIQUE D'UN ARTICLE MOULÉ, ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE RIGIDITÉ
(JA) 成形品の解析モデルへの材料異方性情報および板厚情報の設定方法、および剛性解析方法
Abrégé : front page image
(EN)This material anisotropy information and plate thickness information setting method for an analytical model of a molded article comprises: a developed blank shape acquisition step in which an analytical model of a molded article is developed into a blank shape using reverse molding analysis; a plate thickness information acquisition step in which plate thickness information obtained by the reverse molding analysis is acquired; a reference direction acquisition step in which a reference direction occurring in the developed blank shape is acquired on the basis of the developed blank shape and a parting blank shape; a reference direction setting step in which the angle that is formed between the reference direction of the developed blank shape and each element within the developed blank shape is calculated, and the reference direction is set in each element of the analytical model for the molded article on the basis of the calculated angles; and a plate thickness information setting step in which the plate thickness information acquired at the plate thickness information acquisition step is set in each element of the analytical model for the molded article.
(FR)Procédé de paramétrage d'informations relatives à l'anisotropie et à l'épaisseur de plaque, destiné à un modèle analytique d'un article moulé, comprenant : une étape d'acquisition de forme d'ébauche développée, consistant à développer un modèle analytique d'un article moulé sous la forme d'une ébauche au moyen d'une analyse de moulage inversé ; une étape d'acquisition d'informations d'épaisseur de plaque, consistant à acquérir des informations relatives à l'épaisseur de plaque, obtenues lors de l'analyse de moulage inversé ; une étape d'acquisition de direction de référence, consistant à acquérir une direction de référence apparaissant dans la forme d'ébauche développée sur la base de la forme d'ébauche développée et d'une forme d'ébauche de séparation; une étape de paramétrage de direction de référence consistant à calculer l'angle formé entre la direction de référence de la forme d'ébauche développée et chaque élément situé à l'intérieur de la forme d'ébauche développée, et à paramétrer la direction de référence dans chaque élément du modèle analytique pour l'article moulé sur la base des angles calculés; et une étape de paramétrage d'informations d'épaisseur de plaque, consistant à paramétrer les informations relatives à l'épaisseur de la plaque, acquises à l'étape d'acquisition d'informations d'épaisseur de plaque, dans chaque élément du modèle analytique pour l'article moulé.
(JA) 本発明の成形品の解析モデルへの材料異方性情報および板厚情報の設定方法は、成形品の解析モデルを逆成形解析によりブランク形状に展開する展開ブランク形状取得工程と、前記逆成形解析によって得られる板厚情報を取得する板厚情報取得工程と、展開ブランク形状と部品取りブランク形状とに基づいて、展開ブランク形状における基準方向を取得する基準方向取得工程と、展開ブランク形状の前記基準方向と前記展開ブランク形状内の各要素とのなす角度を算出し、該算出された角度に基づいて前記成形品の解析モデルの各要素に前記基準方向を設定する基準方向設定工程と、前記板厚情報取得工程で取得された前記板厚情報を前記成形品の解析モデルの各要素に設定する板厚情報設定工程とを有する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)