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1. (WO2014015490) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'ESSAI NON DESTRUCTIF À RAYONS COMBINÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/015490    N° de la demande internationale :    PCT/CN2012/079167
Date de publication : 30.01.2014 Date de dépôt international : 26.07.2012
CIB :
G01N 23/02 (2006.01), G01N 23/04 (2006.01), G01N 23/083 (2006.01)
Déposants : TSINGHUA UNIVERSITY [CN/CN]; A405, Nengke Building, Tsinghua University Beijing 100084 (CN) (Tous Sauf US).
WU, Zhifang [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
AN, Jigang [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
LIU, Ximing [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
WANG, Liqiang [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
ZHANG, Yanmin [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
CONG, Peng [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
HUANG, Yibin [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
QIU, Weidong [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
ZHENG, Jian [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
LIU, Jinhui [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
WANG, Zhentao [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
TAN, Chunming [CN/CN]; (CN) (US Seulement)
Inventeurs : WU, Zhifang; (CN).
AN, Jigang; (CN).
LIU, Ximing; (CN).
WANG, Liqiang; (CN).
ZHANG, Yanmin; (CN).
CONG, Peng; (CN).
HUANG, Yibin; (CN).
QIU, Weidong; (CN).
ZHENG, Jian; (CN).
LIU, Jinhui; (CN).
WANG, Zhentao; (CN).
TAN, Chunming; (CN)
Mandataire : YIN INT'L IP FIRM; Room 1015, 10th Floor, Hailong Building No. 1 Zhongguancun Street, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) COMBINED RAY NON-DESTRUCTIVE TESTING METHOD AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'ESSAI NON DESTRUCTIF À RAYONS COMBINÉS
(ZH) 组合式射线无损检测方法及系统
Abrégé : front page image
(EN)A combined ray non-destructive testing method and system. The method and the system integrate γ-ray source (13) and X-ray source (9) to a solid linear array detector (2), a gas linear array detector (4), and a plane array detector (6) on a rigid substrate (5) respectively with a ray source support (10) and a detector support (1). Through a combination of a different ray source and a different detector, DR scanning imaging and fault or cone-beam CT imaging are respectively performed, thereby implementing a multi-energy segment multi-mode combination high-precision ray non-destructive test on a workpiece, and meeting such test requirements as high detection resolution, high detection sensitivity, high ray penetration capability, and desirable long-term stability.
(FR)La présente invention porte sur un procédé et un système d'essai non destructif à rayons combinés. Le procédé et le système intègrent une source de rayons γ (13) et une source de rayons X (9) à un détecteur en réseau linéaire solide (2), un détecteur en réseau linéaire de gaz (4) et un détecteur en réseau plan (6) sur un substrat rigide (5) ayant respectivement un support de source de rayons (10) et un support de détecteur (1). Par l'intermédiaire d'une combinaison d'une source de rayons différente et d'un détecteur différent, une imagerie par balayage DR et une imagerie de tomodensitométrie à faisceau conique ou par défaut sont respectivement réalisées, mettant ainsi en œuvre un essai non destructif à rayons de précision élevée de combinaison multi-mode de segment multi-énergie sur une pièce de travail et satisfaisant des exigences d'essai telles qu'une résolution de détection élevée, une sensibilité de détection élevée, une capacité de pénétration de rayons élevée et une stabilité à long terme désirable.
(ZH)一种组合式射线无损检测方法及系统,该方法及系统将γ射线源(13)和X射线源(9)与固体线阵探测器(2)、气体线阵探测器(4)及面阵探测器(6)分别借助射线源支架(10)和探测器支架(1)集成在一个刚性基座(5)上,通过不同射线源与不同探测器的组合,分别进行DR扫描成像和断层或锥束CT成像,实现对工件的多能量段、多模式组合的高精度射线无损检测,能同时满足高检测分辨率、高探测灵敏度、较强的射线穿透能力和良好的长期稳定性等检测要求。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)