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1. (WO2014013820) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/013820    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/066377
Date de publication : 23.01.2014 Date de dépôt international : 13.06.2013
CIB :
G01N 21/13 (2006.01), G01N 21/01 (2006.01), G01N 21/49 (2006.01), G01N 21/59 (2006.01), G01N 35/02 (2006.01), G01N 35/04 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventeurs : MIMURA Tomonori; (JP).
MAKINO Akihisa; (JP).
ANDO Manabu; (JP).
ADACHI Sakuichiro; (JP)
Mandataire : KASUGA Yuzuru; Torii-nihonbashi Bldg., 4-1, Nihonbashi-honcho 3-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-161629 20.07.2012 JP
Titre (EN) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
Abrégé : front page image
(EN)This automatic analysis device is provided with a sample dispensing mechanism (7), reagent dispensing mechanisms (12A, 12B), stirring mechanisms (33A, 33B), a scattering photometer (40), and an absorption photometer (41) that are arranged on a conveyance path for reaction vessels (2). The reaction vessels (2) are arranged along the circumferential direction of a disk-shaped reaction disk (1) and are conveyed in said circumferential direction through rotation of the reaction disk (1). With regards to a scattered light detection position and a transmitted light detection position that are set in advance on the conveyance path, control is performed so that measurement of scattered light intensity and absorbance are carried out by causing a reaction vessel to (2) pass through these two positions in the course of a single movement step. As a result, the effect of a difference in the measuring times for measurement of scattered light and absorbance is minimized, and it is possible to provide an automatic analysis device that can improve measurement precision.
(FR)Le dispositif d'analyse automatique ci-décrit comprend un mécanisme de distribution d'échantillon (7), des mécanismes de distribution de réactifs (12A, 12B), des mécanismes d'agitation (33A, 33B), un photomètre pour mesurer la diffusion (40), et un photomètre pour mesurer l'absorption (41) qui sont agencés sur le chemin de transport de réacteurs (2). Les réacteurs (2) sont répartis dans le sens circonférentiel d'un disque de réaction (1) et sont transportés dans ledit sens circonférentiel par rotation dudit disque de réaction (1). En ce qui concerne la position de détection de la lumière diffusée et la position de détection de la lumière transmise qui sont définies à l'avance sur la voie de transport, elles sont commandées de façon que la mesure de l'intensité de la lumière diffusée et de l'absorbance soit effectuée par passage du réacteur (2) par ces deux positions au cours d'une seule et même étape de déplacement. En conséquence, l'effet d'une différence dans les temps de mesure pour mesurer ladite lumière diffusée et ladite absorbance est réduit au minimum, et il est possible d'obtenir un dispositif d'analyse automatique capable d'améliorer la précision des mesures.
(JA) 反応容器2を周方向に並べて配置した円盤形状の反応ディスク1の回転によって周方向に搬送される反応容器2の搬送経路上に配置された試料分注機構7、試薬分注機構12A,12B、攪拌機構33A,33B、散乱光度計40、及び、吸光光度計41を備え、搬送経路上に予め設定された散乱光検出位置及び透過光検出位置の両方について同一の移動工程中に反応容器2を通過させることにより散乱光度および吸光度の測定を行うように制御する。これにより、散乱光および吸光度の測定の測定時差の測定結果への影響を抑制し、測定精度を向上することができる自動分析装置を提供することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)