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1. (WO2014013720) DISPOSITIF MICROSCOPE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/013720    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/004338
Date de publication : 23.01.2014 Date de dépôt international : 16.07.2013
CIB :
G02B 21/06 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01)
Déposants : NIKON CORPORATION [JP/JP]; 12-1,Yurakucho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008331 (JP)
Inventeurs : OHKI, Hiroshi; (JP).
NODA, Tomoya; (JP).
OKUDAIRA, Yosuke; (JP)
Mandataire : FURUYA, Fumio; Dai2 Meiho Bldg. 9th Floor, 19-5,Nishishinjuku 1-Chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-160805 19.07.2012 JP
Titre (EN) STRUCTURED ILLUMINATION MICROSCOPE DEVICE
(FR) DISPOSITIF MICROSCOPE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ
(JA) 構造化照明顕微鏡装置
Abrégé : front page image
(EN)In order to improve the efficiency of a demodulation calculation for acquiring a demodulated image from a modulated image, one aspect of a structured microscope device according to the present invention spatially modulates a sample by using a pattern and is equipped with an acquiring means that controls at least one of the wave vector and phase of the pattern, and images a modulated picture of the sample to acquire a modulated image, and a calculating means that generates an image of the sample on the basis of the acquired modulated image. The acquiring means acquires two or more modulated images having the same wave vector and different phase. In each of the spatial frequency spectrum for the two or more modulated images acquired by the acquiring means, the calculating means divides, on the basis of four or more observation values related to two arbitrary observation points that are shifted from each other by a portion of the wave vector, the luminous flux, superimposed at both of the two observation points, into a 0-order modulation component and ±1-order modulation components.
(FR)Afin d'accroître l'efficacité d'un calcul de démodulation servant à obtenir une image démodulée à partir d'une image modulée, un dispositif microscope structuré selon un aspect de la présente invention module dans l'espace un échantillon à l'aide d'un motif, et il est muni d'un moyen d'obtention qui commande le vecteur d'onde et/ou la phase du motif et qui image une trame modulée de l'échantillon afin d'obtenir une image modulée, ainsi que d'un moyen de calcul qui génère une image de l'échantillon sur la base de l'image modulée obtenue. Le moyen d'obtention obtient deux images modulées ou plus qui ont le même vecteur d'onde et une phase différente. Dans chaque spectre de fréquence spatiale pour les deux images modulées ou plus obtenues par le moyen d'obtention, le moyen de calcul divise, sur la base d'au moins quatre valeurs d'observation relatives à deux points d'observation arbitraires décalés l'un par rapport à l'autre par une partie du vecteur d'onde, le flux lumineux qui est superposé à l'emplacement des deux points d'observation, pour obtenir une composante de modulation d'ordre 0 et des composantes de modulation d'ordre ± 1.
(JA) 変調画像から復調画像を取得するための復調演算を効率化するために、本発明の構造化顕微鏡装置の一態様は、縞で標本を空間変調し、前記縞の波数ベクトル及び位相の少なくとも一方を制御すると共に、前記標本の変調像を撮像して変調画像を取得する取得手段と、取得した変調画像に基づいて前記標本の画像を生成する演算手段とを備え、前記取得手段は、前記波数ベクトルが同じであって前記位相が異なる少なくとも2つの前記変調画像を取得し、前記演算手段は、前記取得手段で取得した少なくとも2つの前記変調画像の各々の空間周波数スペクトルにおいて、前記波数ベクトルの分だけ互いにずれた任意の2つの観測点に関する少なくとも4つの観測値に基づいて、前記2つの観測点に重畳された前記観察光束の0次変調成分及び±1次変調成分を互いに分離する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)