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1. (WO2014013709) PARTIE D'EXTRÉMITÉ DE PORTE-ÉCHANTILLON, PORTE-ÉCHANTILLON PRÉSENTANT LADITE PARTIE D'EXTRÉMITÉ DE PORTE-ÉCHANTILLON, ÉTAGE GONIO ET MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE PRÉSENTANT LEDIT ÉTAGE GONIO
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/013709    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/004315
Date de publication : 23.01.2014 Date de dépôt international : 12.07.2013
CIB :
H01J 37/20 (2006.01)
Déposants : MEL-BUILD CORPORATION [JP/JP]; #102, 3-1-15, Shimoyamato, Nishi-ku, Fukuoka-city, Fukuoka 8190052 (JP)
Inventeurs : MIYAZAKI, Hiroya; (JP)
Mandataire : SAKANO, Hiroyuki; #707, LIVCITY KANNAI, 2-43 Aioi-cho, Naka-ku, Yokohama-city, Kanagawa 2310012 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-158550 17.07.2012 JP
2012-214258 27.09.2012 JP
Titre (EN) SPECIMEN HOLDER TIP PART, SPECIMEN HOLDER HAVING SAID SPECIMEN HOLDER TIP PART, GONIO STAGE, AND ELECTRON MICROSCOPE HAVING SAID GONIO STAGE
(FR) PARTIE D'EXTRÉMITÉ DE PORTE-ÉCHANTILLON, PORTE-ÉCHANTILLON PRÉSENTANT LADITE PARTIE D'EXTRÉMITÉ DE PORTE-ÉCHANTILLON, ÉTAGE GONIO ET MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE PRÉSENTANT LEDIT ÉTAGE GONIO
(JA) 試料ホルダー先端部、及び前記試料ホルダー先端部を有する試料ホルダー、並びにゴニオステージ、及び当該ゴニオステージを有する電子顕微鏡
Abrégé : front page image
(EN)The purpose of the present invention is to provide a specimen holder tip part with which specimens can be interchanged safely in an electron microscope. The specimen holder tip part is formed from: a specimen setting seat (6); a specimen mesh (3) for mounting a specimen; a specimen holding part (2) for holding the specimen mesh (3); and a clamping part (24) that clamps the specimen holding part (2).
(FR)L'objet de la présente invention est de fournir une partie d'extrémité de porte-échantillon permettant d'échanger en toute sécurité des échantillons dans un microscope électronique. La partie d'extrémité de porte-échantillon est composée : d'un siège de pose d'échantillon (6) ; d'une maille pour échantillon (3) destinée à porter un échantillon ; d'une partie de retenue d'échantillon (2) destinée à retenir la maille pour échantillon (3) ; et d'une partie de serrage (24) qui serre la partie de retenue d'échantillon (2).
(JA)電子顕微鏡において、安全に試料交換が可能な試料ホルダー先端部を提供することを目的とする。試料設置台座(6)と、試料を載せるための試料メッシュ(3)と、前記試料メッシュ(3)を押さえる試料押さえ部(2)と、前記試料押さえ部(2)をクランプするクランプ部(24)と、からなる試料ホルダー先端部。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)