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1. (WO2014012848) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE ET D'IMAGERIE DE RAYONNEMENT DIFFUSÉ À GÉNÉRATION DE SECONDE HARMONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/012848    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/064723
Date de publication : 23.01.2014 Date de dépôt international : 11.07.2013
CIB :
G01N 21/47 (2006.01), G02F 1/37 (2006.01), G01N 21/63 (2006.01)
Déposants : ÉCOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL) [CH/CH]; EPFL-TTO Quartier de l'innovation - J CH-1015 Lausanne (CH)
Inventeurs : ROKE, Sylvie; (CH)
Mandataire : HARTIG, Michael; Boehmert & Boehmert Anwaltspartnerschaft mbB Patentanwälte Rechtsanwälte Pettenkoferstr. 20-22 80336 Munich (DE)
Données relatives à la priorité :
12176708.1 17.07.2012 EP
Titre (EN) DEVICE AND METHOD FOR MEASURING AND IMAGING SECOND HARMONIC GENERATION SCATTERED RADIATION
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE ET D'IMAGERIE DE RAYONNEMENT DIFFUSÉ À GÉNÉRATION DE SECONDE HARMONIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A method for measuring second harmonic generation (SHG) scattered radiation from a sample including a turbid medium, providing a beam of laser pulses from a laser source having a high pulse energy of more than 10nJ and a repetition rate of less than 10 MHz; splitting the beam of laser pulses into two partial beams and focussing and overlaying the partial beams on a sample including the turbid medium; and detecting second harmonic radiation scattered from the sample.
(FR)La présente invention porte sur un procédé de mesure de rayonnement diffusé à génération de seconde harmonique (SHG) provenant d'un échantillon comprenant un milieu trouble, de fourniture d'un faisceau d'impulsions laser provenant d'une source laser ayant une énergie d'impulsion élevée de plus de 10 nJ et un taux de répétition de moins de 10 MHz; de division du faisceau d'impulsions laser en deux faisceaux partiels et de focalisation et de recouvrement des faisceaux partiels sur un échantillon comprenant le milieu trouble; et de détection d'un rayonnement de seconde harmonique diffusé par l'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)