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1. (WO2014012325) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CONTRÔLE DE PUCE DE MÉMOIRE FLASH NAND
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/012325    N° de la demande internationale :    PCT/CN2012/086106
Date de publication : 23.01.2014 Date de dépôt international : 07.12.2012
CIB :
G11C 29/56 (2006.01)
Déposants : PAX COMPUTER TECHNOLOGY (SHENZHEN) CO., LTD. [CN/CN]; Room 401 and 402, No.3 Building,Shenzhen Software Park, Nanshan Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Inventeurs : WAN, Laimin; (CN).
WEI, Xiankang; (CN).
LIU, Shaohai; (CN)
Mandataire : SHENZHEN ZHONGYI PATENT AND TRADEMARK OFFICE; 4th FL. West(PO Box No.5), Old Special Zone Newspaper Building No. 1014, Shennan Rd., C., Futian Shenzhen, Guangdong 518028 (CN)
Données relatives à la priorité :
201210251133.7 19.07.2012 CN
201210468353.5 19.11.2012 CN
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR CHECKING NAND FLASH MEMORY CHIP
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CONTRÔLE DE PUCE DE MÉMOIRE FLASH NAND
(ZH) 一种NAND Flash存储芯片的校验方法及装置
Abrégé : front page image
(EN)The present invention provides a method for checking a NAND Flash memory chip, wherein according to exclusive OR values in rows and columns and Hash values of data in each page that are written into an extension area, data content in a data area is compared with the calculated Hash values in the data area, to correct one-bit or two-bit errors and find multi-bit errors, thereby ensuring the completeness and correctness of data stored in a NAND Flash chip, and reducing the risk of breakdown of a file system.
(FR)La présente invention porte sur un procédé de contrôle d'une puce de mémoire flash NAND. En fonction de valeurs OU exclusif de rangées et de colonnes et de valeurs de hachage de données dans chaque page qui sont écrites dans une zone d'extension, un contenu de données dans une zone de données est comparé aux valeurs de hachage calculées dans la zone de données, afin de corriger des erreurs d'un bit ou de deux bits et de trouver des erreurs de plusieurs bits, ce qui permet d'assurer le caractère complet et correct des données stockées dans une puce de mémoire flash NAND, et de réduire le risque de panne d'un système de fichiers.
(ZH)本发明提供一种NAND Flash存储芯片的校验方法,根据写入扩展区中每页数据的行列异或值、Hash值,比较数据区的数据内容和计算的数据区的Hash值,能够纠正一位及两位错误,并能发现多位错误,从而确保存放在NAND Flash芯片内数据的完整性及准确性,起到减少文件系统崩溃的风险。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)