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1. (WO2014012006) ACCESSOIRE D'ESSAI DYNAMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/012006    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/050299
Date de publication : 16.01.2014 Date de dépôt international : 12.07.2013
CIB :
G01N 3/08 (2006.01), G01N 3/14 (2006.01), G01M 5/00 (2006.01)
Déposants : ABT, INC. [US/US]; 259 Murdock Road Troutman, North Carolina 28166 (US)
Inventeurs : GUNTER, Charles E.; (US)
Mandataire : WITSIL, Matthew W.; Moore & Van Allen, PLLC P.O. Box 13706 Research Triangle Park, North Carolina 27709 (US)
Données relatives à la priorité :
61/671,177 13.07.2012 US
Titre (EN) DYNAMIC TEST FIXTURE
(FR) ACCESSOIRE D'ESSAI DYNAMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A text fixture apparatus for testing structures with a compression testing machine. The test fixture apparatus includes a support plate assembly and a load plate assembly. The support plate assembly includes two parallel support plates and has sloped surfaces to support a first and second structures and angles of equal magnitude and opposite slope. The load plate assembly is configured to oppose the support plate assembly, includes at least one load plate, and allows the load plate assembly to apply a load to the structures in response force on the support plate assembly, load plate assembly, or a combination thereof in a direction other than perpendicular to the sloped surfaces. A vertical force applied by the assemblies results in substantially equal and opposite horizontal components of force on the first structure and the second structure. Methods of testing and of making the apparatus are provided.
(FR)La présente invention porte sur un appareil accessoire d'essai pour essayer des structures à l'aide d'une machine d'essai de compression. L'appareil accessoire d'essai comprend un ensemble plaque de support et un ensemble plaque de charge. L'ensemble plaque de support comprend deux plaques de support parallèles et présente des surfaces inclinées afin de porter une première et une seconde structure et des angles d'amplitude égale et de pente opposée. L'ensemble plaque de charge est configuré pour être opposé à l'ensemble plaque de support, comprend au moins une plaque de charge et permet à l'ensemble plaque de charge d'appliquer une charge aux structures en réponse à une force sur l'ensemble plaque de support, l'ensemble plaque de charge ou une combinaison de ceux-ci dans une direction autre que perpendiculaire aux surfaces inclinées. Une force verticale appliquée par les ensembles conduit à des composantes de force horizontales, opposées et sensiblement égales sur la première structure et sur la seconde structure. La présente invention porte également sur des procédés d'essai et de fabrication de l'appareil.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)