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1. (WO2014011563) PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE EN TRANSMISSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/011563    N° de la demande internationale :    PCT/US2013/049595
Date de publication : 16.01.2014 Date de dépôt international : 08.07.2013
CIB :
B82Y 35/00 (2011.01)
Déposants : NATIONAL HEALTH RESEARCH INSTITUTES; No. 35, Keyan Road, Zhunan Town, Miaoli County, Taiwan, 35053 (TW).
MATERIALS ANALYSIS TECHNOLOGY (US) CORP. [US/US]; 2480 N. First Street Suite 280 San Jose, CA 95131 (US)
Inventeurs : HSIEH, Yong-fen; (TW).
CHU, Chih-hsun; (TW).
SHARMA, Pradeep; (TW).
KO, Yu-feng; (TW).
YANG, Chung-shi; (TW).
TAI, Lin-ai; (TW).
CHEN, Yu-ching; (TW).
TING, Hsiao-chun; (TW)
Mandataire : SAUNDERS, Hsiu-ming; IPC INTELLECTUAL PROPERTY CONNECTIONS, INC. 3346 Ramona Street Palo Alto, California 94306 (US)
Données relatives à la priorité :
13/544,019 09.07.2012 US
Titre (EN) SPECIMEN PREPARATION FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
(FR) PRÉPARATION D'ÉCHANTILLON POUR MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE EN TRANSMISSION
Abrégé : front page image
(EN)A TEM specimen kit is disclosed, which comprises: (a) a top substrate and a bottom substrate, the top and the bottom substrates being transparent and substantially parallel to each other; (b) a first spacer and a second spacer, located beneath the top substrate and sitting on the bottom substrate, the second spacer being opposite to and spaced apart from the first spacer at a distance of d; and (c) a chamber formed between the top and bottom substrate and between the first and second spacer, the chamber having two ends open to the atmosphere and characterized by having a height defined by the thickness h of the spacer, wherein the height being smaller than the diameter of a red blood cell. Also enclosed are methods for preparing a dry specimen for TEM nanoparticle characterization, and methods for analyzing TEM images of nanoparticles in a liquid sample.
(FR)La présente invention concerne un kit d'échantillon pour microscopie électronique en transmission (TEM) comprenant : (a) un substrat supérieur et un substrat inférieur, les substrats supérieur et inférieur étant transparents et sensiblement parallèles l'un à l'autre; (b) une première cale et une seconde cale, situées en dessous du substrat supérieur et reposant sur le substrat inférieur, la seconde cale étant opposée à la première cale et en étant séparée d'une distance d ; et (c) une chambre formée entre les substrats supérieur et inférieur et entre les première et seconde cales, la chambre présentant deux extrémités ouvertes vers l'atmosphère et caractérisée en ce que sa hauteur est définie par l'épaisseur h de la cale, la hauteur étant plus petite que le diamètre d'un globule rouge. L'invention concerne également des procédés de préparation d'un échantillon sec pour la caractérisation de nanoparticules par TEM, et des procédés d'analyse d'images TEM de nanoparticules dans un échantillon liquide.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)