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1. (WO2014010309) MÉTHODE D'INSPECTION, DISPOSITIF D'INSPECTION, ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION D'UNE PLAQUE EN VERRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/010309    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/064013
Date de publication : 16.01.2014 Date de dépôt international : 21.05.2013
CIB :
G01N 21/88 (2006.01), G01B 11/26 (2006.01), G01B 11/30 (2006.01)
Déposants : CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED [JP/JP]; 5253, Oaza Okiube, Ube-shi, Yamaguchi 7550001 (JP)
Inventeurs : SAKAGUCHI, Makoto; (JP)
Mandataire : TOU-OU PATENT FIRM; Urban Toranomon Bldg., 16-4, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2012-154538 10.07.2012 JP
Titre (EN) INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR PRODUCING GLASS PLATE
(FR) MÉTHODE D'INSPECTION, DISPOSITIF D'INSPECTION, ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION D'UNE PLAQUE EN VERRE
(JA) 検査方法、検査装置及びガラス板の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)A method for inspecting for defects in a coloration layer formed on a glass plate, wherein the method comprises a first step for using an image of the glass plate under inspection and setting a plurality of inspection points on a boundary of the coloration layer, a second step for measuring angles formed by two line segments linking the set inspection points and adjacent inspection points on both sides, and a third step for comparing the measured angles and a predetermined inspection detection angle and determining that a defect has been detected in the coloration layer if the measured angles are smaller than the inspection detection angle.
(FR)Cette invention concerne une méthode d'inspection destinée à déceler des défauts dans une couche de coloration formée sur une plaque en verre, ladite méthode comprenant une première étape consistant à utiliser une image de la plaque en verre à inspecter et à définir une pluralité de points d'inspection sur une limite de la couche de coloration, une deuxième étape consistant à mesurer les angles formés par deux segments de ligne reliant les points d'inspection définis et des points d'inspection adjacents des deux côtés, et une troisième étape consistant à comparer les angles mesurés et un angle de détection d'inspection prédéfini et à déterminer qu'un défaut a été décelé dans la couche de coloration si les angles mesurés sont plus petits que l'angle de détection d'inspection.
(JA)ガラス板上に形成された着色層の欠陥を検査する方法であって、検査対象のガラス板の画像を用いて、前記着色層の境界上に複数の検査点を設定する第1のステップと、前記設定された検査点と隣接する両側の検査点とを結ぶ2本の線分で形成される角度を測定する第2のステップと、前記測定された角度と所定の検査検出角とを比較し、前記測定された角度が前記検査検出角より小さい場合、前記着色層に欠陥を検出したと判定する第3のステップと、を含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)