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1. (WO2014009980) CARTE D'INTERFACE D'UNE TÊTE DE TEST POUR UN ÉQUIPEMENT DE TEST DE DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES ET TÊTE DE TEST CORRESPONDANTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/009980    N° de la demande internationale :    PCT/IT2012/000214
Date de publication : 16.01.2014 Date de dépôt international : 11.07.2012
CIB :
G01R 31/319 (2006.01), G01R 1/04 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : TECHNOPROBE S.p.A. [IT/IT]; Via Cavalieri di Vittorio Veneto, 2 I-23870 Cernusco Lombardone (Lecco) (IT) (Tous Sauf US).
CAMPARDO, Giovanni [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
MAGGIONI, Flavio [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
LIBERINI, Riccardo [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : CAMPARDO, Giovanni; (IT).
MAGGIONI, Flavio; (IT).
LIBERINI, Riccardo; (IT)
Mandataire : BOTTI, Mario; Botti & Ferrari S.r.l. Via Cappellini, 11 I-20124 Milano (IT)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) INTERFACE BOARD OF A TESTING HEAD FOR A TEST EQUIPMENT OF ELECTRONIC DEVICES AND CORRESPONDING TESTING HEAD
(FR) CARTE D'INTERFACE D'UNE TÊTE DE TEST POUR UN ÉQUIPEMENT DE TEST DE DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES ET TÊTE DE TEST CORRESPONDANTE
Abrégé : front page image
(EN)An interface board (50) of a testing head (31) for a test equipment of electronic devices is described, such a testing head (31) comprising a plurality of contact probes (34), each contact probe (34) having at least one contact tip suitable to abut against contact pads of a device to be tested (35), as well as a contact element for the connection with a board (36) of the test equipment. Suitably, the interface board (50) comprises a substrate (51) and at least one redirecting die (40) housed on a first surface of that substrate (51) and a plurality of contact pins (53) projecting from a second surface of that substrate (51) opposed to the first surface, the redirecting die (40) comprising at least one semiconductor substrate (41) whereon at least a first plurality of contact pads (42A) is realized, suitable to contact a contact element of a contact probe (34) of the testing head (31), the contact pins (53) being suitable to contact the board (36).
(FR)La présente invention concerne une carte d'interface (50) d'une tête de test (31) pour un équipement de test de dispositifs électroniques est décrit, telle qu'une tête de test (31) comprenant une pluralité de sondes de contact (34), chaque sonde de contact (34) ayant au moins une pointe de contact appropriée pour venir en butée contre les plages de contact d'un dispositif à tester (35), ainsi qu'un élément de contact destiné à la connexion avec une carte (36) de l'équipement de test. De façon appropriée, la carte d'interface (50) comprend un substrat (51) et au moins un dé de redirection (40) logé sur une première surface de ce substrat (51) et une pluralité de broches de contact (53) faisant saillie à partir d'une seconde surface de ce substrat (51) opposée à la première surface, le dé de redirection (40) comprenant au moins un substrat semi-conducteur (41) sur lequel au moins une première pluralité de plots de contact (42A) est réalisée, appropriée pour entrer en contact avec un élément de contact d'une sonde de contact (34) de la tête de test (31), les broches de contact (53) étant appropriées pour être en contact avec la carte (36).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : italien (IT)