WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2014009294) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DES FORCES DE CONTACT ENTRE UN IMPLANT DÉFORMABLE ET LE TISSU ENVIRONNANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/009294    N° de la demande internationale :    PCT/EP2013/064328
Date de publication : 16.01.2014 Date de dépôt international : 05.07.2013
CIB :
G06F 17/50 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITÄT ZÜRICH [CH/CH]; Prorektorat MNW Rämistr. 71 CH-8006 Zürich (CH).
ETH ZÜRICH [CH/CH]; ETH Transfer Rämistr. 101 CH-8092 Zürich (CH)
Inventeurs : GESSAT, Michael; (CH).
FALK, Volkmar; (CH).
MAZZA, Edoardo; (CH).
HOPF, Raoul; (CH)
Mandataire : SCHULZ, Ben Jesko; Schulz Junghans Patentanwälte PartGmbB Grossbeerenstrasse 71 10963 Berlin (DE)
Données relatives à la priorité :
12175533.4 09.07.2012 EP
Titre (EN) METHOD FOR DETERMINING CONTACT FORCES BETWEEN A DEFORMABLE IMPLANT AND SURROUNDING TISSUE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DES FORCES DE CONTACT ENTRE UN IMPLANT DÉFORMABLE ET LE TISSU ENVIRONNANT
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method for determining reaction forces (F) exerted by a material surrounding an deformable implant (1) after the implant (1) was implanted into said material leading to a deformed state of said implant (1). According to the invention, the method comprises the steps of: generating a shape model of the shape of the implant in an undeformed state of the implant (1), determining the displacements (u) of points (P) of the shape model in the deformed state with respect to the undeformed state using at least one image of the implant (1) in the deformed state, generating a finite element model of the implant (1) in its undeformed state using said shape model of the shape of the implant (1) in the undeformed state and a constitutive model for modelling the material properties of the implant, imposing said displacements (u) as kinematic boundary conditions on points (BP) of the finite element model associated to said points (P) of said shape model, and numerically calculating a reaction force (F) exerted by said surrounding material on each of said points (MP) of the finite element model using said boundary conditions (u), particularly by means of a finite element simulation.
(FR)La présente invention concerne un procédé de détermination des forces de réaction (F) exercées par un matériau entourant un implant déformable (1) après l'implantation de l'implant (1) dans ledit matériau conduisant à un état déformé dudit implant (1). Selon l'invention, le procédé comprend les étapes de : génération d'un modèle de forme de la forme de l'implant dans un état non déformé de l'implant (1), détermination des déplacements (u) de points (P) du modèle de forme dans l'état déformé relativement à l'état non déformé en utilisant au moins une image de l'implant (1) dans l'état déformé, génération d'un modèle d'élément fini de l'implant (1) dans son état non déformé en utilisant ledit modèle de forme de la forme de l'implant (1) dans l'état non déformé et un modèle constitutif pour la modélisation des propriétés matérielles de l'implant, application desdits déplacements (u) comme des conditions limites cinématiques sur des points (BP) du modèle d'élément fini associé auxdits points (P) dudit modèle de forme, et calcul numérique d'une force de réaction (F) exercée par ledit matériau environnant sur chacun desdits points (MP) du modèle d'élément fini en utilisant lesdites conditions limites (u), particulièrement au moyen d'une simulation d'élément fini.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)